1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。3.sem是一种电子显微镜

关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是

1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

活性氧化铝一般作为吸附剂或催化剂载体用；柱状或球状氧化铝一般为载体或陶瓷膜过滤上用；高温系列的氧化铝一般用在陶瓷方面，一般为高档陶瓷，比如真空管、电子陶瓷方面；高温系列的方法一般为工业氧化铝加助溶剂高温煅烧制得；抛光氧化铝一般用来打磨，种类

还可以，根据调查，价格一般在1000元以上。扫描电镜喷金几乎可以对所有类型的样本进行图像处理，陶瓷、金属、合金、半导体、聚合物、生物样品等。然而，某些特定类型的样品更具有挑战性，并且需要操作者进行额外的样品制备，以便借助扫描电镜喷金收集高质

1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。3.sem是一种电子显微镜

电子显微镜分为扫描电镜和透射电镜，扫描电镜（sem)可以观察三维结构，分辨率为几十埃，放大倍数为20万至40万倍。透射电镜（tem）观察二维结构，分辨率可达到几个埃，放大倍率最高能达到100万倍，纳米级别的都可以看到一万倍。石墨烯放大1万倍

luomuwuhen(站内联系TA)用SEM分析样品，粒径大小可以直接看出来0523gy(站内联系TA)这个问题我也想问，继续关注。。。zhoufudong(站内联系TA)最近做了一个SEM，也不会分析，求助各位大侠绿茶咖啡(站内联系TA)

目前常见的四大品牌，日本电子（JEOL），日立（HITACHI），蔡司（ZEISS）和FEI，这几家的场发射都很好，市场占有率也比较高。国产的话KYKY的钨灯丝和LaB6还不错，另外荷兰飞纳（PHENOM）也有不错的LaB6扫描电镜推出。主

baoyanl(站内联系TA)二手的你敢用吗？这样精密件，非常容易坏，你修的钱就够买新了。建议买中科院的KYKY，我们这用了二十多年了，都过使用期了，还修修凑合用。价钱低，当然性能确实不如小鬼子的。baoyanl(站内联系TA)还有一个推荐

SEM仪器能区分清2个点之间的最小距离就是这台仪器的最高分辨率，分辨率越高，从图像上就可能可以看出更多细致的东西；而放大倍数是指图像长度与真实观察长度的比值，片面的追求高放大倍数并没有什么实际的意义，因为它的最大放大倍数定义为：有效放大倍

CPU： AMD八核 锐龙二代R7-2700盒装主板：技嘉华硕B450MDDR4内存：金士顿16G(8G*2) DDR4 400显卡：技嘉华硕GTX1660TI 6G硬盘：西数240G固态 M.2接口 ➕1t机械

1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。3.sem是一种电子显微镜

电镜ceta是扫描电镜和能谱分析仪，电镜ceta能谱分析仪包含两台仪器，即扫描电镜和能谱分析仪，扫描电镜简写为SEM，其原理是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息，通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表

低分辨率下，要不要喷金根据材料电导率决定，一般分辨率会比较清晰高分辨率下（0.5微米往下），导电不好的材料表面会模糊不清。喷金之后，表面导电性改善，分辨率能达到几十纳米左右。所以金属样品不用喷金，而陶瓷纳米颗粒样品最好在表面镀层铂金。如果在

扫描电镜的SE和BSE模式的区别，1.收集信号不同。SE：二次电子；BSE：背散射电子2.分辨率不同。SE：高；BSE：低3.图像衬度不同。SE：形貌衬度；BSE：质厚衬度4.应用目的不同。SE：围观立体形貌；BSE：元素、相二维分布在使用

分类:外语出国问题描述:SEM的原理是什么？解析:(SEM)扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相

1.做TEM测试时样品的厚度最厚是多少 ? TEM的样品厚度最好小于100nm，太厚了电子束不易透过，分析效果不好。2.请问样品的的穿晶断裂和沿晶断裂在SEM图片上有各有什么明显的特征？在SEM图片中，沿晶断裂可以清楚地看到裂纹是沿着晶界展