一般应该是对比AgTiO2和TiO2之间的SEM，具体分析的内容应该包括：Ag粒子在TiO2表面的分布是否均匀；AgTiO2和TiO2单一样品（如球或是花）的尺寸变化（均匀，变大，变小）AgTiO2和TiO2整体样品的均匀性和分散

测量时间因样品类型和测试要求而不同。电镜测量过程包括：制样→放样→确认位置→拍照、测试等。1、对于简单样品，可能不需要特别制样，直接取样放样（要抽真空）就可以，该过程可能需要几分钟到十几分钟；对于负责样品，可能需要断开、抛光腐蚀或者其他处理

扫描电镜作为材料分析上一种常用的仪器，它的主要目的还是观察你做出的材料形貌。因为你说是纳米材料，其实纳米材料不一定只有几个纳米，我印象里几十甚至几百个纳米的都可以叫做纳米材料。你这个图里的微米单位，应该是给你一个量度，好像就跟地图上的比例尺

SEM和XRD基本是两个东西……SEM看形貌，打能谱看成分，高中生都能懂，但是看组织什么的还得学习，操作基本可以放给训练过的人自己做XRD是分析相组成，速度快不用抽真空，还很便宜，但是数据分析比较麻烦需要专门学习，对晶体学理论要求较高。操作

“江南”双目显微镜，2000元，看看细胞形态还可以。最普通的光学显微镜1000元左右，学生用的生物显微镜 加偏光的，带透射和反射的10000元左右，一般用于金相分析，是比较高档的光学显微镜。 电子显微镜的价格很高，扫描电子显微镜（SEM）一

1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

原因是你的样品导电性不好，在电子束的照射下产生了放电。如果你对放大倍数要求不高，可以在样品表面进行喷金或者喷碳处理，来提高样品的导电性能，这样可以消除放电。扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope, SEM)

证明核壳结构有很多种办法，看你有什么样的条件和设备了 ：一是把颗粒横切后做场发射电镜，二是做等离子轰击XPS，三是做透射要证明是纳米材料也有很多种，最直接的当然是做场发射电镜，其次是XRD，用谢乐公式计算晶粒尺寸，注意这里是晶粒尺寸，非材料

电子显微镜的主要公司有FEI，日立，日本电子，卡尔蔡司，中科科仪等这不对啊，很多无名啊！LJ-CL01拍照测量显微镜 ，LJ-CLP03金相显微镜 ，LJ-HD01 高清显微镜, LJ-HS01 HDMI显微镜，LJ-DSX01电视显微

1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。3.sem是一种电子显微镜

1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

电子显微镜分为扫描电镜和透射电镜，扫描电镜（sem)可以观察三维结构，分辨率为几十埃，放大倍数为20万至40万倍。透射电镜（tem）观察二维结构，分辨率可达到几个埃，放大倍率最高能达到100万倍，纳米级别的都可以看到一万倍。石墨烯放大1万倍

解释：abbr. 扫描式电子显微镜（scanning electron microscope）；标准电子组件（Standard Electronic Modules）n. (Sem)（泰、柬）森（人名）；(Sem)（西、挪）塞姆（人名）

“江南”双目显微镜，2000元，看看细胞形态还可以。最普通的光学显微镜1000元左右，学生用的生物显微镜 加偏光的，带透射和反射的10000元左右，一般用于金相分析，是比较高档的光学显微镜。 电子显微镜的价格很高，扫描电子显微镜（SEM）一

透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的,如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况,你就必须要用TEM来观察了,SEM通常看材料的缺口断面,当然还有许多其他应用.x0dSEM是电子束激发出表面次

1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。3.sem是一种电子显微镜

理论上单纯用SEM不能测出晶型，测晶型一般用XRD等仪器。扫描电镜只能观察形貌，分辨率可达亚微米级别。不过对于特定的样品，如果具有明确的晶型，借助SEM形貌有可能分析出晶型（比如一种物质只有区别明显的两种晶型，借助确定的形貌可以推断是那种晶

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.区别：SE

分类:外语出国问题描述:SEM的原理是什么？解析:(SEM)扫描电子显微镜的设计思想和工作原理，早在1935年便已被提出来了。1942年，英国首先制成一台实验室用的扫描电镜，但由于成像的分辨率很差，照相