SEM和XRD基本是两个东西……SEM看形貌，打能谱看成分，高中生都能懂，但是看组织什么的还得学习，操作基本可以放给训练过的人自己做XRD是分析相组成，速度快不用抽真空，还很便宜，但是数据分析比较麻烦需要专门学习，对晶体学理论要求较高。操作

在做扫描电镜（SEM）测试时，大部分同学已经了解了SEM测试样品的相关要求，但是仍然有一部分同学不太清楚，今天铄思百检测小编整理了关于“SEM测试样品要求”希望能帮到大家！SEM测试样品要求如下：1.粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg

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工具材料：电脑、word。第一步，，打开电脑，打开软件，打开word文档，打开后发现没有显示标尺。第二步，找到上方工具栏中点击视图-标尺，将标尺勾选即可。第三步，勾选完成后页面中出现标尺，将鼠标的光标移动到下图红色圈注位置，按住鼠标左键

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑在做扫描电镜（SEM）测试时，大部分同学

1.sem扫描电镜的原理是依据电子和物质的相互作用，扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。2.通过对这些信息的接收、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。3.sem是一种电子显微镜

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应该是自然干燥或者在烘箱中干燥，不能再用水淋洗，用氮气吹可能会把样品吹落。Si线可能有导电性，但也需要用导电胶带固定。用帖有双面导电胶带的样品杯按压一下硅片，把样品转移到样品杯上。在做扫描电镜（SEM）测试时，大部分同学已经了解了SEM测试

标尺是250um，用米尺测量一下这个小段是多少，说明是放大后的尺寸； 除以250um，就是放大倍率； 标尺一种有刻度的杆,用于测量地面上一点到测量员水平视线之间的垂直距离 比喻衡量事物的标准，作测量用的任何一种带刻度的棒或尺在做扫描电镜（S

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就

如果高分子样品导电性很差，在做sem时表面电荷累积，使得画面发白，分辨率下降。这时候可以在表面蒸镀上一层很薄的金或者碳，提高材料的导电性。当然，碳和金层必须非常薄，不影响材料原有性质。想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者

0.1克左右。首先SEM扫描电镜测试对样品的要求并不高，粉末、液体、固体、薄膜、块体均可测试，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm左右。粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试要提前与试验室工作人员说明。微晶玻璃的SEM

1、比例尺计算公式：图上距离=实际距离×比例尺，实际距离=图上距离除以比例尺，比例尺=图上距离除以实际距离.在比例尺计算中要注意单位间的换算。2、比例尺求法举例：图上2厘米表示实际300千米，可以这样求比例尺2厘米比300千米=2厘米比30

自己排队倒还没看到过wjack6827(站内联系TA)可是纳米粒子合成过程中条件控制的问题吧，不同的配方，不同的手法做出来的东西是有差别的，还有可能是结晶度好不好的问题！哈哈仅供参考！redspy(站内联系TA)合成的时候加东西 粒子表面有

不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子束分解。2、在电子束扫描下热稳定性要好。3、能提供导电和导热通道。4、大小与厚度要适于样品台的安装。5、观察面应该清洁，无污染物。6、进行微区成分分析的表面应平整。7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电

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要。在扫描电镜中，比例尺是判断大小的重要依据，如果没有保持一致，会导致大小无法判断，因此要保持。扫描电镜（SEM）是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。这个差异有点大可能是制备扫

0.1克左右。首先SEM扫描电镜测试对样品的要求并不高，粉末、液体、固体、薄膜、块体均可测试，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm左右。粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试要提前与试验室工作人员说明。SEM的样品可以