这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。具有磁性的材料不能做SEM

玻璃陨石有弱磁性，用大块的吸铁石吸感觉不到磁性，要用碎的小吸铁石，就能发现它的弱磁性存在！石铁陨石由铁、镍和硅、酸、盐矿物组成，铁镍金属含量30至65，这类陨石约占陨石总量的1.2，故商业价值最高。该类陨石含铁70%以上，其次为硅、铝、镍，

因为磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一范围。如果是热发射sem磁性

具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

赛默飞semquattro能测磁性样品。Quattro环境扫描场发射电镜QuattroSEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜，能将成像和分析全面性能与环境模式ESEM相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。1、首先应

具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

四氧化三铁属于晶体，其内部分子排列规则，分子电流取向一致导致对外表现出磁性。当把磁铁靠近铁磁性物质时，受磁铁磁性作用，铁磁性物质内部分子电流亦趋于规则取向，而具有磁性，该过程叫磁化。经研究证明了Fe3O4是一种铁(Ⅲ)酸盐，即FeⅡFeⅢ[

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磁性材料喷碳以后就可以做的。但有些单位还是害怕，所有就不给做了。dylee(站内联系TA)其实这么些纳米磁珠没有多大磁性啦，再说是顺磁的，有外磁场时是才有磁性，而且磁强弱，又不是一块磁性明显的大磁铁。学校是风声鹤唳，草本皆兵啊，这个应该进行

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导电,但是不能直接做SEM,因为氧化亚铁虽然能导电,但是它的分子结构不如铁那么紧密有序,使得如果用它直接做SEM,电阻率会比单质铁大很多,也比不上单质铁的柔韧性和耐久性。另外:它只是电阻率偏大的导体,还不是半导体。磁性材料喷碳以后就可以做的

赛默飞semquattro能测磁性样品。Quattro环境扫描场发射电镜QuattroSEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜，能将成像和分析全面性能与环境模式ESEM相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。磁性材料喷

SEM描电镜主要应用于微观形貌、颗粒尺寸、微区组成、元素分布、元素价态和化学键、晶体结构、相组成、结构缺陷、晶界结构和组成等。SEM一般通过搭配能谱仪EDS使用,可利用EDS进行元素成分定性、定量分析。用来观测芯片内部层次和测量各层厚度、观

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