磁性材料喷碳以后就可以做的。但有些单位还是害怕，所有就不给做了。dylee(站内联系TA)其实这么些纳米磁珠没有多大磁性啦，再说是顺磁的，有外磁场时是才有磁性，而且磁强弱，又不是一块磁性明显的大磁铁。学校是风声鹤唳，草本皆兵啊，这个应该进行

具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

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具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

因为磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一范围。如果是热发射sem磁性

具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

扫描电子显微镜，简称扫描电镜，英文名为Scanning Electron Microscope，缩写为SEM，是利用高能量的电子束在固体样品表面扫描，激发出二次电子、背散射电子、X射线等物理信号，从而获得样品表面图像及测定元素成分的一种电子

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赛默飞semquattro能测磁性样品。Quattro环境扫描场发射电镜QuattroSEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜，能将成像和分析全面性能与环境模式ESEM相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。1、首先应

既然是看膜，就需要楼主决定要看自然状态下的膜，还是制品的膜形貌了，制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜，可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上，处理方式和之前回答你的一样，喷金、引导电胶。具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成

1、首先应立即加热退磁，可以用本身不带磁性的铁镊子或大头针靠近样品。2、其次先上低倍钨丝试试，磁场比较低，没有晃动或者照片异常等等的话再去上场发射。3、最后不可用磁铁直接靠近样品进行测试即可。磁性材料喷碳以后就可以做的。但有些单位还是害怕，

具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

磁性材料喷碳以后就可以做的。但有些单位还是害怕，所有就不给做了。dylee(站内联系TA)其实这么些纳米磁珠没有多大磁性啦，再说是顺磁的，有外磁场时是才有磁性，而且磁强弱，又不是一块磁性明显的大磁铁。学校是风声鹤唳，草本皆兵啊，这个应该进行

你这属于逆光拍摄，由于背景过亮，照相机会认为光线太强而减少曝光量，就很容易导致人物曝光不足而发黑。解决的方法就是增加曝光量，逆光拍摄时要表现人物的话要视情况进行曝光补偿二至三档（一般相机都有曝光补偿功能）。对于已经拍好的照片，可以使用pho

1、高真空环境是分子流，湿的样品不断释放水蒸气，使高真空情况下，真空度很难上升，往往达不到比较优越的条件。2、水蒸气和2000多度高温的钨丝反应，会加速电子枪灯丝挥发，极大降低灯丝寿命。3、对电子束的散射，会造成信号损失4、污染样品磁性材料

这里面有几个问题：1、钢的整体的碳成分是多少并不表示任何一点的碳成分均是这个数字，钢里有贫碳相如铁素体，也有富碳相如渗碳体，打在不同的部位得数也不一样；2、碳是轻元素，成分测量的误差本来就较大；3、eds本身的精度不高，只做定性分析之用，不

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