哪位大侠知道SEM照片照出来很白是什么原因呢?
第一,样品导电,则就对比度问题;第二,样品不导电,或样品过多,或喷金量不够,这时需要喷金时间需要加长,而且样品量最好肉眼略可见即可;第三,样品放在液态导电胶中。查看原帖>>薄膜电容器喷金的工作原理:1、喷金方法:
如何用SEM看无机粒子在树脂中的分散,就是要如何来处理压片表面???
1、药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时,药物与辅料的堆密度、粒度及粒度分布等物理性质要相近,以利于混合均匀,尤其是规格较小、需测定含量均匀度的药物,必须慎重选择各种辅料。 2、不溶性润滑剂须最后加入用于粉末直接压片的不溶性润滑剂一
超细银粉sem制样怎么做
(1)对清洗过后的溶液,进行稀释过后采用的是上清液做测试还是下层浓溶液测试(理论粒径为50nm和200nm)最好都测试一下,二者可能尺寸上面有区别。(2)银粉溶液制备成功以后,没有立即表征,遮光静置几天后,再做电镜表征,是否有影响只要排除对
sem形貌标尺要求
在做扫描电镜(SEM)测试时,大部分同学已经了解了SEM测试样品的相关要求,但是仍然有一部分同学不太清楚,今天铄思百检测小编整理了关于“SEM测试样品要求”希望能帮到大家!SEM测试样品要求如下:1.粉末、液体、薄膜、块体均可。粉末10mg
如何用SEM看无机粒子在树脂中的分散,就是要如何来处理压片表面???
1、药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时,药物与辅料的堆密度、粒度及粒度分布等物理性质要相近,以利于混合均匀,尤其是规格较小、需测定含量均匀度的药物,必须慎重选择各种辅料。 2、不溶性润滑剂须最后加入用于粉末直接压片的不溶性润滑剂一
四氧化三铁的sem用什么分散制样
四氧化三铁的sem用什么分散制样少加样品粉末,用无水乙醇分散,样品一定要少,铺在导电胶上用洗耳球吹干,干燥后的粉末样品要肉眼看不太出来就比较好了,若是明显的一层恐怕电镜下效果不太理想你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计,利用背景的亮度差别,
超细银粉sem制样怎么做
(1)对清洗过后的溶液,进行稀释过后采用的是上清液做测试还是下层浓溶液测试(理论粒径为50nm和200nm)最好都测试一下,二者可能尺寸上面有区别。(2)银粉溶液制备成功以后,没有立即表征,遮光静置几天后,再做电镜表征,是否有影响只要排除对
鉴定和研究矿物的其他主要方法简介
鉴定和研究矿物的方法,随工作目的和要求的不同而异(表16-1)。不同的方法各有其特点,它们对样品的要求及所能解决的问题也各不相同。下面仅介绍某些重要方法的简要特点。1.成分分析方法此类方法所得结果即为物质的化学成分数据。除经典化学分析系
怎样预处理用SEM看粒子大小
关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题,上海献峰网络指出:1、药物与辅料的性质要相近进行粉末直接压片时,药物与辅料的堆密度、粒度及粒度分布等物理性质要相近,以利于混合均匀,尤其是规格较小、需测定含量均匀度的药物,必须慎重选择各种辅料。 2
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
SEM的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑0.1克左右。首先SEM扫描电镜测试对样
如何在SEM图像中测量纳米线的直径与长度
胶体实际能叫做溶液胶体溶液并列都属于散系其本质区别面溶质(散质)粒径同胶体指粒径1-100纳米散质溶液于1纳米感觉这样的提问没有什么意义建议看看书,查查资料关于怎样预处理用SEM看粒子大小问题,上海献峰网络指出:1、药物与辅料的性质要相近进
4、SEM观察的样品,必须是平整的样品吗?
不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子束分解。2、在电子束扫描下热稳定性要好。3、能提供导电和导热通道。4、大小与厚度要适于样品台的安装。5、观察面应该清洁,无污染物。6、进行微区成分分析的表面应平整。7、磁性试样要预先去磁,以免观察时电
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
SEM的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑一般来说粉末样品分为导电样品和不导电样品
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
SEM的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑0.1克左右。首先SEM扫描电镜测试对样
测sem时的硅片的作用
检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜,硅片是生产集成电路、分立器件、传感器
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
SEM的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子
扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求
SEM的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑0.1克左右。首先SEM扫描电镜测试对样
我做的合金SEM和粒度测试结论不一样?是为什么呢?
lz应该要看测试什么粒度范围的粉末,比如测试1um一下的粉末,那么FSSS粒度仪就完全不正确了,用BET或SEM比较正确一点,但事先必须超声波分散。在测试几十纳米到几个微米之间的粉末,SEM我觉得是比较正确的,不过关键还是要看测试人的技术的
扫描电镜前要用无水乙醇吗
扫描电镜前要用无水乙醇。扫面电镜时,断口间隙处会存在污染物,要用无水乙醇、丙酮或超声波清洗法清理干净。污染物会掩盖图像细节,引起试样荷电及图像质量变坏。扫描电镜(SEM)是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表