镁合金金相分析应该是很简单的。因为镁合金的组成相相对较少，除了基体镁固溶体外，就是析出相或者离异共晶相！但从这个图片显示，你们的晶粒尺寸很小，并且应该是固溶甚至时效后的金相组织。至于细致的分析，可以结合SEM和EDS以及XRD来分析。单单就

( 1) 粉煤灰的颜色粉煤灰一般呈灰色粉末状，其颜色可以有深浅变化，这种变化不仅与粉煤灰的含水率、细度和含碳量 ( 主要以残余炭粒、半焦和煤粒形式存在) 有关，而且还与粉煤灰的化学成分有关。通常情况下，含水率越高、颗粒越粗、含碳量增大均可

日本电子--JEOL, 历史悠久，世界著名的电子光学仪器制造商。这个型号已经升级为JSM6510LV，由于这一档产品竞争加剧，JEOL逐渐忽视这个层次产品，市场逐渐被韩国COXEM 【酷塞目】SEM替代。COXEM【酷塞目】是当前这一档SE

通常，放大400倍能看清细胞结构，放大1000倍可以看清细菌结构。5000倍显微镜能看清细胞中细胞器形状和基本结构，比如细胞中的核、线粒体、糖原颗粒等。如果想要看清楚这些细胞器的内部构造，就得要再放大到10000-30000倍了。找全国铸件

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SEM TEM 都是主要用来分析形貌。他两相比较TEM的分辨率要高于SEM。TEM给出的是一个平面图，可以告诉你样品的形貌特这，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌结构的，给出的是立体图，对观察棒状，球状，等等材料材料有很好的

碳酸钙样品用SEM、XRD法和BET法测定准确。SEM、XRD法和BET法测试得到的纳米碳酸钙粒径结果相近，SEM法测试纳米碳酸钙粒径的同时可观察其粒子形貌，但该方法存在取样代表性问题。BET法测试结果受纳米碳酸钙表面处理影响。切片后腐蚀掉

SEM TEM 都是主要用来分析形貌。他两相比较TEM的分辨率要高于SEM。TEM给出的是一个平面图，可以告诉你样品的形貌特这，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌结构的，给出的是立体图，对观察棒状，球状，等等材料材料有很好的

碳酸钙样品用SEM、XRD法和BET法测定准确。SEM、XRD法和BET法测试得到的纳米碳酸钙粒径结果相近，SEM法测试纳米碳酸钙粒径的同时可观察其粒子形貌，但该方法存在取样代表性问题。BET法测试结果受纳米碳酸钙表面处理影响。切片后腐蚀掉

对于零维和一维纳米材料，SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂，超声波分散，离心沉淀后用吸管取上清液，滴在干净的硅片或载玻片上，干燥后用导电胶带粘取。具体沉淀时间或离心机的参数，需要多做几次试验，针对不同的材料特点，选择好的条件。自

专业拉伸和疲劳试样，处理如下：第一：断口切下来后【高度没有要求，所切试样尽量保持一样的高度（2mm左右），这样才能方便SEM，否则SEM时，要做的SEM断口都不在一个高度，很难对焦，严重影响图片的质量】第二:在有条件的情况下，断口最好全部用

产品名称：哈氏合金C-276UNS N10276国际通称：哈氏合金、C-276、INCONEL Alloy C-276、HC-276、Hastelloy C-276、UNS N10276、W.-Nr. 2.4819、ATI C-276、

对于零维和一维纳米材料，SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂，超声波分散，离心沉淀后用吸管取上清液，滴在干净的硅片或载玻片上，干燥后用导电胶带粘取。具体沉淀时间或离心机的参数，需要多做几次试验，针对不同的材料特点，选择好的条件。自

已经断开的的试样可以用锯子把断裂截面切下来（1cm左右厚），然后就可以放到SEM里观察了。至于没断开，仅仅开裂的试样，恐怕只能从式样表面观察一下了，同样也是用句子把含有裂纹的部分切下来即可。时间久了的最大问题是氧化，但是作为SEM观察，其实

已经断开的的试样可以用锯子把断裂截面切下来（1cm左右厚），然后就可以放到SEM里观察了。至于没断开，仅仅开裂的试样，恐怕只能从式样表面观察一下了，同样也是用句子把含有裂纹的部分切下来即可。时间久了的最大问题是氧化，但是作为SEM观察，其实

产品名称：哈氏合金C-276UNS N10276国际通称：哈氏合金、C-276、INCONEL Alloy C-276、HC-276、Hastelloy C-276、UNS N10276、W.-Nr. 2.4819、ATI C-276、

已经断开的的试样可以用锯子把断裂截面切下来（1cm左右厚），然后就可以放到SEM里观察了。至于没断开，仅仅开裂的试样，恐怕只能从式样表面观察一下了，同样也是用句子把含有裂纹的部分切下来即可。时间久了的最大问题是氧化，但是作为SEM观察，其实

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法切片后腐蚀掉表面的基体，突出分散相，

扫描电镜的试样制备是一个非常重要的老问题,特别是场发射扫描电镜观察过程中的非导电试样的制备方法,制备方法不正确就会出现一些假象.本文主要讨论了与SEM图像质量相关的因素,例如加速电压、镀膜厚度、试样尺寸及固定方法等,举例说明了选择最佳条件在