针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

广泛应用于防寒服、滑雪衣、羽绒服、航海服、潜水服、帐篷、车船罩、雨衣、摩托车雨衣、防水鞋等防相关系列用品和太空服、升空气球、防化服等防气系产品。还有3M高温胶带主要用于：1、电线电缆工业的绝缘包层；2、电氧工业的绝缘衬里；3、贮槽辊筒表面包

广泛应用于防寒服、滑雪衣、羽绒服、航海服、潜水服、帐篷、车船罩、雨衣、摩托车雨衣、防水鞋等防相关系列用品和太空服、升空气球、防化服等防气系产品。还有3M高温胶带主要用于：1、电线电缆工业的绝缘包层；2、电氧工业的绝缘衬里；3、贮槽辊筒表面包

光学显微镜就可以测了，何必这么费事用SEM。你需要测芯直径或者剖面折射率可以用S18，模场直径，包层直径，芯层直径，不圆度等都有专门的仪器可以测量。用SEM只能测量包层直径。光纤光缆等相关的，我们一般使用菲尼特的。针对怎么用SEM看薄膜截断

光学显微镜就可以测了，何必这么费事用SEM。你需要测芯直径或者剖面折射率可以用S18，模场直径，包层直径，芯层直径，不圆度等都有专门的仪器可以测量。用SEM只能测量包层直径。光纤光缆等相关的，我们一般使用菲尼特的。可以把材料切一小块儿，然后

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答

分析检测TEM测试：1.ZSM-5的TEM如何制样?答：在玛瑙研钵中加上酒精研磨，在超声波中分散，滴到微栅上就可以了。辐照的敏感程度与SiAl比有关，SiAl比越大越稳定。2.对于衍射强度比较弱,寿命比较短的高分子样品，曝光时间是长一些还是

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法光学显微镜就可以测了，何必这么费事用

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法光学显微镜就可以测了，何必这么费事用

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答

可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答

光学显微镜就可以测了，何必这么费事用SEM。你需要测芯直径或者剖面折射率可以用S18，模场直径，包层直径，芯层直径，不圆度等都有专门的仪器可以测量。用SEM只能测量包层直径。光纤光缆等相关的，我们一般使用菲尼特的。可以把材料切一小块儿，然后

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄

光学显微镜就可以测了，何必这么费事用SEM。你需要测芯直径或者剖面折射率可以用S18，模场直径，包层直径，芯层直径，不圆度等都有专门的仪器可以测量。用SEM只能测量包层直径。光纤光缆等相关的，我们一般使用菲尼特的。我只能告诉你，智慧沃家的W

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可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就像磨小试样的金相一样），磨好后再喷金，然后再用SEM观察玻璃涂层的均匀性以及厚度吧。楼上说的掰断的方法，看是能看，但看的都是断口的形貌吧，是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。光学显微镜就可以测了，何必这么费事

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