对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

应该是自然干燥或者在烘箱中干燥，不能再用水淋洗，用氮气吹可能会把样品吹落。Si线可能有导电性，但也需要用导电胶带固定。用帖有双面导电胶带的样品杯按压一下硅片，把样品转移到样品杯上。对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定

测量时间因样品类型和测试要求而不同。电镜测量过程包括：制样→放样→确认位置→拍照、测试等。1、对于简单样品，可能不需要特别制样，直接取样放样（要抽真空）就可以，该过程可能需要几分钟到十几分钟；对于负责样品，可能需要断开、抛光腐蚀或者其他处理

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法可以把材料切一小块儿，然后镶样吧（就

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

赛默飞semquattro能测磁性样品。Quattro环境扫描场发射电镜QuattroSEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜，能将成像和分析全面性能与环境模式ESEM相结合，使得样品研究得以在自然状态下进行。1、首先应

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

（1）对清洗过后的溶液，进行稀释过后采用的是上清液做测试还是下层浓溶液测试（理论粒径为50nm和200nm）最好都测试一下，二者可能尺寸上面有区别。（2）银粉溶液制备成功以后，没有立即表征，遮光静置几天后，再做电镜表征，是否有影响只要排除对

应该是自然干燥或者在烘箱中干燥，不能再用水淋洗，用氮气吹可能会把样品吹落。Si线可能有导电性，但也需要用导电胶带固定。用帖有双面导电胶带的样品杯按压一下硅片，把样品转移到样品杯上。你的镀膜喷的是什么金属，金，pt，PtPa，还是Ir？如果

导电双面胶带是一种的压敏导电胶，具有优良的粘接性能。清洁待粘接的部位后，将导电双面胶带贴上，同时压紧，它可以提供的粘接、导电性能。使用说明：使用时要粘接表面的清洁，否则要用清洁溶剂清洁待粘接表面，干燥后才能粘接。粘接表面干燥，潮湿的环境会影

简单的说吧——由于sem的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号，而若样品不导电怎或造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图

1，用交流电产生的磁场去反复磁化，永久磁铁会消除或减弱磁性。制做方法；用一220V交流接触器线圈与半边铁芯改制，线圈与40W白炽灯串联以减小线圈电流延长工作时间。将永久磁铁或欲消磁的工件接近通电的铁芯即可。你试试。对试样的要求试样可以是块状

磁性材料喷碳以后就可以做的。但有些单位还是害怕，所有就不给做了。dylee(站内联系TA)其实这么些纳米磁珠没有多大磁性啦，再说是顺磁的，有外磁场时是才有磁性，而且磁强弱，又不是一块磁性明显的大磁铁。学校是风声鹤唳，草本皆兵啊，这个应该进行

SEM抛光我想应该是要清洁一下表面，避免表面含有一些脏东西之类的，如果是要看组织，不仅最后不是抛光，而且做SEM之前还需要腐蚀，SEM的二次电子成像原理就是要求表面凹凸不平，如果抛光了的话就没办法看二次电子像了，只能用背散射看了如果你只是做

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法对试样的要求试样可以是块状也可以是粉

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法对试样的要求试样可以是块状也可以是粉