不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子束分解。2、在电子束扫描下热稳定性要好。3、能提供导电和导热通道。4、大小与厚度要适于样品台的安装。5、观察面应该清洁，无污染物。6、进行微区成分分析的表面应平整。7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电

帆泰检测回答：要看你所用的扫描电镜（SEM）的样品盒有多大，像我们实验室所用的冷场发射扫描电镜的样品盒只能放2.5*2.5*2cm大小的样品，如果是材料导电性能不好还需要喷金处理才能比较好的观察材料的形貌。希望可以帮助到你对试样的要求试样可

帆泰检测回答：要看你所用的扫描电镜（SEM）的样品盒有多大，像我们实验室所用的冷场发射扫描电镜的样品盒只能放2.5*2.5*2cm大小的样品，如果是材料导电性能不好还需要喷金处理才能比较好的观察材料的形貌。希望可以帮助到你对试样的要求试样可

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

1、高真空环境是分子流，湿的样品不断释放水蒸气，使高真空情况下，真空度很难上升，往往达不到比较优越的条件。2、水蒸气和2000多度高温的钨丝反应，会加速电子枪灯丝挥发，极大降低灯丝寿命。3、对电子束的散射，会造成信号损失4、污染样品对试样的

不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子束分解。2、在电子束扫描下热稳定性要好。3、能提供导电和导热通道。4、大小与厚度要适于样品台的安装。5、观察面应该清洁，无污染物。6、进行微区成分分析的表面应平整。7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电

不是。SEM对样品的要求。1、不会被电子束分解。2、在电子束扫描下热稳定性要好。3、能提供导电和导热通道。4、大小与厚度要适于样品台的安装。5、观察面应该清洁，无污染物。6、进行微区成分分析的表面应平整。7、磁性试样要预先去磁，以免观察时电

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法对试样的要求试样可以是块状也可以是粉

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，因为氧化铝模板是脆性的，所以在掰弯的时候肯定有地方裂开，裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面，我用过这个方法，还算是比较有效的方法对试样的要求试样可以是块状也可以是粉

0.1克左右。首先SEM扫描电镜测试对样品的要求并不高，粉末、液体、固体、薄膜、块体均可测试，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm左右。粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试要提前与试验室工作人员说明。SEM的样品可以

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状

氮化碳测sem不需要喷金。低分辨率下，要不要喷金根据材料电导率决定，一般分辨率会比较清晰高分辨率下（0.5微米往下），导电不好的材料表面会模糊不清。喷金之后，表面导电性改善，分辨率能达到几十纳米左右。所以金属样品不用喷金，而陶瓷纳米颗粒样品

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑0.1克左右。首先SEM扫描电镜测试对样

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑0.1克左右。首先SEM扫描电镜测试对样