粗糙组和厚度是完全两个概念，二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度，只是表征材料厚度的，和表面粗糙度没有联系1．比较法：将被测表面和表面粗糙度样板直接进行比较，多用于车间，评定表面粗糙度值

表面粗糙度RMS是在三项高度参数（Ra、Rz、Ry）不能满足要求的情况下，可选用的附加评定参数：轮廓微观不平度的平均间距——Sm（即RSm）、轮廓的单峰平均间距S和轮廓支承率。对于表面粗糙度有要求的表面须给出两项基本要求，即给出高度参数值和

表面粗糙度RMS是在三项高度参数（Ra、Rz、Ry）不能满足要求的情况下，可选用的附加评定参数：轮廓微观不平度的平均间距——Sm（即RSm）、轮廓的单峰平均间距S和轮廓支承率。对于表面粗糙度有要求的表面须给出两项基本要求，即给出高度参数值和

零件加工后的表面粗糙度，过去称为表面光洁度。其数值为什么用0.8，1.6，3.2等表示，是行业里规定的。一般机械制造工业中主要选用Ra，Ra值按下列公式计算： Ra=1l ∫t0|Y(x)|dx或近似为Ra= 1n ∑|Yi|。式中，Y

粗糙组和厚度是完全两个概念，二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度，只是表征材料厚度的，和表面粗糙度没有联系xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是

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粗糙组和厚度是完全两个概念，二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度，只是表征材料厚度的，和表面粗糙度没有联系SEM主要优势是观察粗糙的原始表面，一般无需对样品表面进行特殊处理，在微区属于无

粗糙组和厚度是完全两个概念，二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度，只是表征材料厚度的，和表面粗糙度没有联系当分辨率在纳米和原子范围时，扫描电镜（sem）和原子力电镜（afm）是我们今天可

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想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是

粗糙组和厚度是完全两个概念，二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度，只是表征材料厚度的，和表面粗糙度没有联系你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计，利用背景的亮度差别，其实效果不一定很好的。

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