工作原理：金属探测器利用电磁感应的原理，利用有交流电通过的线圈，产生迅速变化的磁场。这个磁场能在金属物体内部能感生涡电流。涡电流又会产生磁场，倒过来影响原来的磁场，引发探测器发出鸣声。金属探测器（metal detector）是一款高性能专

不可以。由于微塑料尺寸较小，我们可以尝试EDS观测其形貌。样品形貌均一，元素分布均匀，无明显微塑料的信息，多次尝试未果，所以未经分离富集的土壤样本直接进行微观分析，难以发现微塑料的信息。eds穿透能力和样品密度也有关的。eds不是表面技术，

1、手持金属探测器一般是1—40CM左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）2、探盘式地下金属探测器一般是1—15M左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）3、远程地下金属探测器是1—50M深。（看型号，看品牌，不同地下金属

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

不可以。由于微塑料尺寸较小，我们可以尝试EDS观测其形貌。样品形貌均一，元素分布均匀，无明显微塑料的信息，多次尝试未果，所以未经分离富集的土壤样本直接进行微观分析，难以发现微塑料的信息。eds穿透能力和样品密度也有关的。eds不是表面技术，

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二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

1、手持金属探测器一般是1—40CM左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）2、探盘式地下金属探测器一般是1—15M左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）3、远程地下金属探测器是1—50M深。（看型号，看品牌，不同地下金属

1、手持金属探测器一般是1—40CM左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）2、探盘式地下金属探测器一般是1—15M左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）3、远程地下金属探测器是1—50M深。（看型号，看品牌，不同地下金属

不可以。由于微塑料尺寸较小，我们可以尝试EDS观测其形貌。样品形貌均一，元素分布均匀，无明显微塑料的信息，多次尝试未果，所以未经分离富集的土壤样本直接进行微观分析，难以发现微塑料的信息。eds穿透能力和样品密度也有关的。eds不是表面技术，

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不可以。由于微塑料尺寸较小，我们可以尝试EDS观测其形貌。样品形貌均一，元素分布均匀，无明显微塑料的信息，多次尝试未果，所以未经分离富集的土壤样本直接进行微观分析，难以发现微塑料的信息。eds穿透能力和样品密度也有关的。eds不是表面技术，

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1、手持金属探测器一般是1—40CM左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）2、探盘式地下金属探测器一般是1—15M左右。（看型号，看品牌，不同地下金属探测不同）3、远程地下金属探测器是1—50M深。（看型号，看品牌，不同地下金属

具有磁性的材料不能做SEM.采用磁透镜进行聚焦成像。如果被测试样磁性较强，轻则干扰成像，重则被测试样粉末被吸附到镜头上，损坏仪器。理论上，磁性是物质的一种属性，任何物质都有磁性。因此要求试样完全没有磁性是不可能的，我们只能要求其磁性小于某一

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素

是的。mapping就是扫描每个点，然后把每个点得到的能谱图按特定的元素峰画图，sem的mapping扫描的范围越大越好，在样品中可穿透和散射的范围越大，伴随着产生的X射线信号范围也越大，也就越好。1、手持金属探测器一般是1—40CM左右。