对于零维和一维纳米材料，SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂，超声波分散，离心沉淀后用吸管取上清液，滴在干净的硅片或载玻片上，干燥后用导电胶带粘取。具体沉淀时间或离心机的参数，需要多做几次试验，针对不同的材料特点，选择好的条件。其

问题不详。。粒径大概范围是多少？SEM有自身的分辨率限制的。。不同设存在差异，好的2nm左右。。如果分辨率可接受。就是测量方法的问题，根据放倍率进行换算。。如有标准物进行校准是最好的。其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的

毕业论文主要内容概述怎么写毕业论文主要内容概述怎么写，大学生活又即将即将结束，我们在毕业前夕的时候，是需要进行论文答辩的，可是对于毕业论文都不会写了，别说毕业答辩，我和大家一起来看看毕业论文主要内容概述怎么写。毕业论文

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1、放大率：与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕照片面积除以扫描面积得到。所以，SEM中，透镜与放大率无关。2、场深：在SE

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸，以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后，统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸，以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后，统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使

sems颗粒物处理方式有2种。1、利用电晕放电技术对含尘气流进行电离，使得气流中的颗粒物带上负电荷，进而被捕集在带有正电荷的集尘基板上。2、利用特定材料对颗粒的捕集实现气固分离。其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信

sems颗粒物处理方式有2种。1、利用电晕放电技术对含尘气流进行电离，使得气流中的颗粒物带上负电荷，进而被捕集在带有正电荷的集尘基板上。2、利用特定材料对颗粒的捕集实现气固分离。其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信

一楼回答的是针对纳米棒吧？1、纳米颗粒是指在100纳米以下的，都叫纳米颗粒。2、测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪（也有低端国产的粒度仪），可以提供粒度报告，尺寸分布报告，体积分布报告，强度分布报告等多种数据。特点是可以测试1

粗糙组和厚度是完全两个概念，二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度，只是表征材料厚度的，和表面粗糙度没有联系其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

LED产品制作过程中所用的银胶，其作用是:1.固定性2.导电性3.传导性。银胶性能对LED的影响也主要体现在1.散热性2.光反射性3.VF电性,如果性能不好可能会影响成品率，因为沾合性不强，焊接品质不高。一般来说，银胶的品质和LED封装后的

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

LED产品制作过程中所用的银胶，其作用是:1.固定性2.导电性3.传导性。银胶性能对LED的影响也主要体现在1.散热性2.光反射性3.VF电性,如果性能不好可能会影响成品率，因为沾合性不强，焊接品质不高。一般来说，银胶的品质和LED封装后的

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

纳米颗粒粒径大小可以用TEM、SEM等技术测量粒径分布可以采用DLS、原子力显微镜、梯度离心、电泳等方法比表面积可以BET的方法。其他的就不清楚了，可能还有新的方法楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用

纳米颗粒粒径大小可以用TEM、SEM等技术测量粒径分布可以采用DLS、原子力显微镜、梯度离心、电泳等方法比表面积可以BET的方法。其他的就不清楚了，可能还有新的方法楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸，以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后，统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使