如何测量半导体材料的光致发光谱
我目前只知道一种仪器,叫TXRF(Total Reflection X-ray Fluorescence)。其原理是用X光激发原子层电子逃逸,导致外层电子跃迁释放出特征X射线,其可以被接收器(EDX)检测形成能量弥散X射线谱。其他的不太清楚
我目前只知道一种仪器,叫TXRF(Total Reflection X-ray Fluorescence)。其原理是用X光激发原子层电子逃逸,导致外层电子跃迁释放出特征X射线,其可以被接收器(EDX)检测形成能量弥散X射线谱。其他的不太清楚