扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

In lens是一个镜筒内光轴上的二次电子探头。__eam Booster开启的前提下工作，主要用于成高分辨的二次电子像；SE1是镜筒外的二次电子探头，用于成常规二次电子像。_SE是镜筒内光轴上的背散射电子探头，同样在Beam Booste

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

扫描电镜成像原理主要有两种，二次电子像(secondary electron)：形貌衬度，就是你的细菌外表有凸凹形貌，可以拍摄形貌像；背散射电子探头(back scatter electron)：原子序数衬度，你可以进行染色，把一些重金属的

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

扫描电镜中的WD参数是工作距离，样品成像表面到物镜的距离。介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。扫描电镜的优点是：①有较高的放大倍数，2-20万倍之间连续可调；②有很大的景

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

B打不出来原因有以下几点：1、能谱峰显示的一般是质量百分比，B的原子序数很靠前，与其他相同数量的元素相比，B的峰会小很多，能谱理论检测限在0.1%wt，因此可能识别不到；2、能谱检测结果经常会有C峰出现，C峰和B峰很接近，可能把B峰掩盖；3

什么资料也没有，只能给你个思路吧切片+SEM观察：a.确认气泡位置。金镍之间？只存在镍中？镍铜之间？b.镍是否平整？IMC层是否形成？镍、金厚度是否在范围？根据以上观察，扩展分析：是否是异物或油污阻隔，导致气泡？是什么物质？——EDS分析查

扫描电镜没办法分辨，SEM只是用来对sample做形貌分析的，需要加上EDSWDS才可以用来做成分分析。本来BSE可以用来分辨原子序数差别较大的元素，不过Mg和Al靠太近，也没办法分别啊。镁合金金相分析应该是很简单的。因为镁合金的组成相相

一个内层电子被激发而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较

LS说的对，这是一个环状双链DNA，DNA复制时需要解超螺旋，进入松弛状态，在这类DNA的半保留复制中无论是否双向复制，在复制过程中都会形成一个环状，这一部分其实是已经复制了的部分。解了超螺旋的松弛状态DNA比较长，所以会出现这类环状，如果

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需

扫描电镜没办法分辨，SEM只是用来对sample做形貌分析的，需要加上EDSWDS才可以用来做成分分析。本来BSE可以用来分辨原子序数差别较大的元素，不过Mg和Al靠太近，也没办法分别啊。镁合金金相分析应该是很简单的。因为镁合金的组成相相

一个内层电子被激发而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态，激发态原子寿命约为 (10)-12-(10)-14s，然后自发地由能量高的状态跃迁到能量低的状态。这个过程称为驰豫过程。驰豫过程既可以是非辐射跃迁，也可以是辐射跃迁。当较

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜

LS说的对，这是一个环状双链DNA，DNA复制时需要解超螺旋，进入松弛状态，在这类DNA的半保留复制中无论是否双向复制，在复制过程中都会形成一个环状，这一部分其实是已经复制了的部分。解了超螺旋的松弛状态DNA比较长，所以会出现这类环状，如果

背散射电子是发射电子被样品弹性碰撞弹回来的，所以原子序数大的原子越大，弹性碰撞的概率越大，所以原子序数大的背散射电子强度的大；二次电子是从样品表面发射的电子，跟原子序数没关系，跟样品的表面形态有关，因为撞击角度90度是二次电子基本么有，倾斜