• 用afm测出的粗糙度跟用sem做出的厚度两者之间有什么差别

    粗糙组和厚度是完全两个概念,二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度,只是表征材料厚度的,和表面粗糙度没有联系当分辨率在纳米和原子范围时,扫描电镜(sem)和原子力电镜(afm)是我们今天可

    2023-5-8
    3500
  • 用afm测出的粗糙度跟用sem做出的厚度两者之间有什么差别

    粗糙组和厚度是完全两个概念,二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度,只是表征材料厚度的,和表面粗糙度没有联系当分辨率在纳米和原子范围时,扫描电镜(sem)和原子力电镜(afm)是我们今天可

    2023-5-8
    2800
  • 用afm测出的粗糙度跟用sem做出的厚度两者之间有什么差别

    粗糙组和厚度是完全两个概念,二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度,只是表征材料厚度的,和表面粗糙度没有联系当分辨率在纳米和原子范围时,扫描电镜(sem)和原子力电镜(afm)是我们今天可

    2023-5-7
    4100
  • 聚合物想测SEM,如何制作样品?

    既然是看膜,就需要楼主决定要看自然状态下的膜,还是制品的膜形貌了,制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜,可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上,处理方式和之前回答你的一样,喷金、引导电胶。扫描电镜只能对样品表面进行成像,即使是液相,也只

    2023-5-7
    3700
  • sems颗粒物怎么处理

    sems颗粒物处理方式有2种。1、利用电晕放电技术对含尘气流进行电离,使得气流中的颗粒物带上负电荷,进而被捕集在带有正电荷的集尘基板上。2、利用特定材料对颗粒的捕集实现气固分离。其实,SEM只能知道局部的大致粒径,并不能得到粒径分布的完整信

    2023-5-7
    3400
  • 液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗

    国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得

    2023-5-6
    3200
  • 液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗

    国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得

    2023-5-6
    3600
  • 如何制备SEM样品的横断面

    如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理,因为氧化铝模板是脆性的,所以在掰弯的时候肯定有地方裂开,裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面,我用过这个方法,还算是比较有效的方法对了,还有一种是针对液体样品的,快速

    2023-5-6
    4300
  • 如何制备SEM样品的横断面

    如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理,因为氧化铝模板是脆性的,所以在掰弯的时候肯定有地方裂开,裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面,我用过这个方法,还算是比较有效的方法对了,还有一种是针对液体样品的,快速

    2023-5-6
    1600
  • 用afm测出的粗糙度跟用sem做出的厚度两者之间有什么差别

    粗糙组和厚度是完全两个概念,二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度,只是表征材料厚度的,和表面粗糙度没有联系测什么百度一下吧,应该都有详细的测试原理及项目。区别应该是 SEM和TEM和AF

    2023-5-5
    3000
  • sem没脱干净

    用TBAF会残留一些丁基不好除去,可以试一下CF3COOHDCM,VV=1:10,然后用K2CO3EtOH室温2h就可以了.CF3COOHDCM:叔丁基醚 一般用异丁烯在酸催化下于DCM中进行,替代试剂有tBuo-C(=NH)CCl

    2023-5-5
    3100
  • 液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗

    国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得

    2023-5-5
    2600
  • 液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗

    国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得

    2023-5-5
    3700
  • 液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗

    国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得

    2023-5-5
    5400
  • 乳液做的样品在做SEM时该怎么制样?

    扫描电镜只能对样品表面进行成像,即使是液相,也只能是液体表面,这个在环境扫描电镜中已经成功试验过,观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程,液滴的表面形貌清晰可见。无论传统扫描电镜还是环境真空扫描电镜都必须把悬浊液中物质表面从液体中暴露出来,否

    2023-5-4
    3000
  • 液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗

    国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得

    2023-5-4
    3000
  • 液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗

    国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得

    2023-5-4
    4600
  • 乳液做的样品在做SEM时该怎么制样?

    扫描电镜只能对样品表面进行成像,即使是液相,也只能是液体表面,这个在环境扫描电镜中已经成功试验过,观察水蒸气在玻璃板上的凝聚和蒸发过程,液滴的表面形貌清晰可见。无论传统扫描电镜还是环境真空扫描电镜都必须把悬浊液中物质表面从液体中暴露出来,否

    2023-5-4
    3000
  • 液体可以做SEMEDX分析其中杂质颗粒的元素吗

    国内做SEM一般用钨针尖去扫光滑固体表面,然后得电压。做液体的话,我觉得有以下几个问题:1.由于钨上面有偏压,若分析的杂志带电或有极性就没法测了(会通电的)2.如果扫液体表面会由于表面张力是液体吸附上去 3.在液体内部测试的话,你得

    2023-5-4
    2100