1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品

描述射频信号指标 接收灵敏度，这应该是最基本的概念之一，表征的是接收机能够在不超过一定误码率的情况下识别的最低信号强度。讲灵敏度的时候我们常常联系到SNR（信噪比，我们一般是讲接收机的解调信噪比），我们把解调信噪比定义为不超过一定误码率

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需

关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是

描述射频信号指标 接收灵敏度，这应该是最基本的概念之一，表征的是接收机能够在不超过一定误码率的情况下识别的最低信号强度。讲灵敏度的时候我们常常联系到SNR（信噪比，我们一般是讲接收机的解调信噪比），我们把解调信噪比定义为不超过一定误码率

1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需要镀金2、环境：电镜处在无振动干扰和无磁场干扰的环境下3、设备：电镜电子枪仍在合理的使用时间内4、拍摄：找到拍摄位置，选择合适距离，选择合适探头→对中→调像散→聚焦，反复操作至最清晰

描述射频信号指标 接收灵敏度，这应该是最基本的概念之一，表征的是接收机能够在不超过一定误码率的情况下识别的最低信号强度。讲灵敏度的时候我们常常联系到SNR（信噪比，我们一般是讲接收机的解调信噪比），我们把解调信噪比定义为不超过一定误码率

关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是

你的镀膜喷的是什么金属，金，pt，PtPa，还是Ir？如果是Au，Pt的可以用王水溶掉吧我没做过，只是猜测。至于镀层厚度，要看你的具体情况了，几个nm到十几个nm都有。如果你做能谱可能要薄一点，如果想观察到清晰图像，不被样品的二次电子干扰

绘制和sem图像相似图形方法如下：能画出结构方程模型图的软件有很多，比如Amos和SmartPLS，这两个软件在可视化方面做的非常好，Mplus和前两个软件有所不同，它是通过语法输入，从diagrammer生成图形，而Amos和SmartP

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一

具体看看你的样品有什么特征了，要能很好的分散在溶剂中，如果太黏，制样的效果不好；还有就是如果忖度太低，需要染色，这样效果要好点。制样：一般附在铜网上，制成液体，滴在铜网上，干燥就行了如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理，

关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是

sem的意思是：1、abbr. 扫描式电子显微镜（scanning electron microscope）；标准电子组件（Standard Electronic Modules）2、n. (Sem)（泰、柬）森（人名）；(Sem)（西

你看看电子显微镜的测试原理，SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言，不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像，所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好，SEM可能