可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图1、首先要看你氧化石墨烯的质量怎么样，要是插层不够充分，石

关键是聚焦，高倍聚焦，低倍成像。再就是调节对比度亮度得到一幅清晰的图像。 如果比较了解电镜的话，还要调节像散，对中等等之类的。SEM想清楚这个要自己多试条件，不同的电压、扫描速度、工作距离都是会影响图片清晰度的，当然条件确认的情况下，就是

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图调整样品台倾斜角度！一种所谓机械对中样品台在这个调解过程中

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图1、首先要看你氧化石墨烯的质量怎么样，要是插层不够充分，石

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图可以。样品室中有样品台和信号探测器样品台还能使样品做平移、

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可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图调整样品台倾斜角度！一种所谓机械对中样品台在这个调解过程中

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图调整样品台倾斜角度！一种所谓机械对中样品台在这个调解过程中

调整样品台倾斜角度！一种所谓机械对中样品台在这个调解过程中，虽然不能精确的保证样品倾斜时严格以同一个轴线来调整，但基本观察视野不会跑，不离焦！这样翻过来调过去的看，你就看清楚了！稍微多讲点有关EM立体成像技术：1950年代，美国科学家在实验

调整样品台倾斜角度！一种所谓机械对中样品台在这个调解过程中，虽然不能精确的保证样品倾斜时严格以同一个轴线来调整，但基本观察视野不会跑，不离焦！这样翻过来调过去的看，你就看清楚了！稍微多讲点有关EM立体成像技术：1950年代，美国科学家在实验

调整样品台倾斜角度！一种所谓机械对中样品台在这个调解过程中，虽然不能精确的保证样品倾斜时严格以同一个轴线来调整，但基本观察视野不会跑，不离焦！这样翻过来调过去的看，你就看清楚了！稍微多讲点有关EM立体成像技术：1950年代，美国科学家在实验

调整样品台倾斜角度！一种所谓机械对中样品台在这个调解过程中，虽然不能精确的保证样品倾斜时严格以同一个轴线来调整，但基本观察视野不会跑，不离焦！这样翻过来调过去的看，你就看清楚了！稍微多讲点有关EM立体成像技术：1950年代，美国科学家在实验

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需

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哇，把图片弄清晰很困难的……本人“悟”出一个方法，效果还行。把图片像素放大一点，如长边像素在1250像素左右；然后锐化；接着把图片复原回原来大小。我一般都是用光影魔术手来执行这种方法的，当然高深一点的PHOTOSHOP也行！有很多图像处理软

可以有3个方法：1，制样的时候将样品倾斜放置。2，用倾斜样品台制样，有些SEM样品台配有30，45,60度倾斜的样品台。3，高级的SEM，可以讲探头本身倾斜，从而获得大角度的SEM图1、制样：成功制备出所要观察的位置，样品如果不导电，可能需

你输入的泊松比可能不对，可能是您的参数不对，不少资料上材料的参数不一定对的。在Ansys里面，他提示你那一长串公式计算出的值是正的，但是按照你的参数，那个值是负值，所以不能进行计算分析。你看看是不是你单位搞错了，单位搞错了差好几个数量级，可