其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

jade计算的是全谱的粒径大小，如果你的样品做的比较好测出来的各个峰对应的粒径大小差别不大如果样品不太好直接在仪器上计算出来的是最强峰对应的粒径大小就看你想要哪个数据了用公式：D=Kλ(βcosθ) K为常数；λ为X射线波长；β为衍射峰半

粒度分析有多种方法，其中图像法粒度分析对于固体材料的相分散研究，具有重要意义。当然也可以进行粉体材料的粒度分析，但需要良好的制样，获得可以接受的结果。您可以参考：SEMEDS自动粒度分析系统：这是扫描电镜配套的EDS分析附件所具备的高级分

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

切片后腐蚀掉表面的基体，突出分散相，或者液氮脆断看剖面，电镜观察分散均匀性。看作为分散相的碳酸钙颗粒尺度，如果小于50nm，最好用场发射扫描电镜，如果大于50nm用普通钨灯丝扫描电镜即可。与基体结合好坏，看拉伸断口再做推断。一般建议，具体专

方法：横向是粒径值，该数值呈对数分布。左列是体积累计百分比，对应的是上升趋势的曲线图。右列是某一区间的体积百分比，对应的是起伏的直方图（或曲线图）。数据列表是分析图表相对应的测试结果。拓展：X10：颗粒累计分布为10%的粒径，即小于此粒径

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸，以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后，统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

楼上说的是错的。SHERR公式计算得到的是晶体尺寸和颗粒尺寸完全是两回事。用马尔文激光粒度仪可以测的纳米颗粒的颗粒尺寸，以及分布范围。楼主说的恐怕是要用SEM观察到颗粒后，统计平均颗粒粒径吧。那个软件叫image-pro plus 。建议使

楼主如果基体必须是不导电玻璃，如不能喷金，可以喷碳，这可以消除荷电问题，不妨碍形貌观察。如果不能喷涂导电膜，就得升级您使用的仪器：使用具有更高的低电压性能扫描电镜，玻璃水平放置，低电压在1kv-2kv之间找到合适的消除荷电的观察条件，或者玻

纳米颗粒粒径大小可以用TEM、SEM等技术测量粒径分布可以采用DLS、原子力显微镜、梯度离心、电泳等方法比表面积可以BET的方法。其他的就不清楚了，可能还有新的方法其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布

相关函数，强度涨落曲线，数据导出。给软件固定一个标尺，之后粒径通过在图上划线得到相对长度，软件会记录你划的每一个粒径的长度，给出数字数据并做出柱状分布图。粒径分布图是指不同粒径范围内的颗粒的个数（或质量或表面积）所占的比例。给软件固定一个标

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小

对试样的要求试样可以是块状也可以是粉末状,在真空中能保持稳定,含水分的式样应该先烘干除去水分。表面受到污染的样品，要在不破坏试样结构的情况下清洗烘干。新断开的断口或断面，一般不需要进行处理，以免破坏断口或断面的结构形态．对磁性样品要求预先去

问题一：请问粒度分布图和分布表怎么分析？谢谢！一般粒度分析仪是通过代表性地扫描颗粒数目进行统计，图中蓝色曲线丁表每个粒度所占百分比，对应横坐标（粒度）和左边纵坐标（百分比）；红色曲线代表粒度的累积百分比，对应横坐标（粒度）和右边纵坐标（

完全没有问题，但一般用个几千块钱的体式显微镜（带有刻度），可以满足0.5mm的尺寸测量了！但如果进行基本数据测量统计，要接配pc控制测量软件，那么就有意思了，几万块~几十万块的光学显微镜或者叫视频显微镜可以随便选择扫描电镜通过观测晶粒形貌,