如何解决SEM图像的漂移问题

我自己碰到的图像漂移有：

1。样品固定不牢固，或者样品太。因此样品大小要合适，并用导电胶固定牢固。

2。刚放入样品，开始观察时图像漂移较大，可等半小时左右在开始，图像漂移消除或减弱。

3。样品导电性差，荷电现象导致图像漂移不清楚，可降低电压或者样品表面喷金（碳）处理。

4。扫描电镜对中不好导致聚焦过程中图像移动。

5。高倍观察时，环境振动也会导致图像漂移或者浮动。

聚焦时图像移动最可能的原因：1，你样品粘贴的不牢，在抽真空的情况下，样品会产生移动，这种移动在高放大倍数下回越明显。2，你样品如果是多孔材料，在抽真空下也会产生移动。3，样品不是十分干燥也会移动。

如何消除：1，从样品室取出样品，用镊子轻压样品，增加样品和导电胶的结合强度。2，长时间抽真空后在测试。

图像拉长：是因为你点击拍照的时候，样品在动，所以图像会变形。

如何消除：1，解决样品移动就可以完全解决。2，不能解决样品移动，那就拍照的时候选择快速拍照模式。

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题，喷金或者喷碳就可以解决.

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