常用的颗粒表征技术或者仪器，你用过哪些？

颗粒表面特性分析仪适用于在非破坏的条件下连续监测悬浮液状态下颗粒与溶剂之间的表面化学、亲和性、润湿性以及颗粒的比表面积。

对于粉体（浆料，粉料）的分散性，稳定性，亲和性以及比表面积的分析测试快速有效准确的测量手段。

1. 悬浮液体系颗粒比表面积

2. 粒子分散性、稳定性

3. 颗粒与介质之间亲和性

4. 粉体质量控制、分散工艺研究

试用范围如下：

1、颗粒：SiO2、SiC、ZnO、Al2O3、BaCO3、石墨烯、活性炭、炭黑等一百多种；

2、悬浮体系溶剂类型：水、乙醇、丁酮、甲苯等各类含H质子溶剂。

应用领域：

1）尖端制陶术：湿式制程、加工工艺改善, 分散性的质控和研发

2）纳米科技：纳米粒子表面的化学状态, 如: 吸附和脱附作用, 比表面积的变化 等

3）电子材料：浓稠状浆料和研磨液 (CMP) 的开发及品管

4）墨水：碳黑、颜料分散, 最适研磨条件, 表面亲和性及化学和物理状态

5）能源：电池, 太阳能板等的碳黑, 纳米碳管和浆料的分散, 粒子表面的化学和物理状态

6）制药：API湿润性、亲和性及吸水性的差异

7）其他: 全部的浓稠分散悬浊液体, 纳米纤维, 纳米碳等.

GPC：测试高分子的分子量及分子量分布指数 SEM/TEM/AFM：表征材料的表面形貌(注意原理不同) FTIR：定性分析高分子含有的基团 NMR：定量分析聚合物的结构 UV-vis：可定量计算共聚物单体的个数 Dls：表征高分子溶液粒径 Lls：表征高分子溶液分子量。

透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的,如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况,你就必须要用TEM来观察了,SEM通常看材料的缺口断面,当然还有许多其他应用.\x0dSEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍.\x0d扫描电镜通常用在一些断口观察分析,外加一个能谱仪,可以进行能谱扫描.其放大倍数相对较低,操作方便,样品制作简单,对于高聚物,须进行喷金处理 TEM则可以观看样品的内部结构,粒子的分散等.其放大倍数高于SEM,但也不是绝对,现在有些扫描电镜的放大倍数也可以很高.其操作较复杂,样品制作也较为烦琐

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