SEM和TEM观察到的压电陶瓷晶粒有什么不同啊？

你的这个样品很可能是多级结构，因为做TEM要超声分散，把本来团聚的颗粒分散开了。建议在xrd中用谢了公式算一下粒径。如果能确定TEM中

的粒子是单晶的，就叫“晶粒”（grain)，一般SEM中看到的粒子叫“颗粒"(particle),因为SEM是看不到晶格结构的。不知对你有否帮助？

这个是可以测成分的，牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。

扫描电镜通过观测晶粒形貌,放大后使用标尺测量粒径,或者专业的软件,对颗粒形态进行综合表征,如长轴短轴周长面积等,可以生成粒度直方图,但由于扫描电镜一般允许10%左右的放大倍数误差,因此相应的粒径尺寸也有较大的误差.

X射线衍射是通过输入衍射峰半高宽来对晶粒大小进行估算,相对准确度高.

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