为什么用sem区分四氧化三铁

用sem区分四氧化三铁可以用于纳米级样品的三维成像。扫描电子显微镜sem和高度激光粒度仪对四氧化三铁纳米片进行了表征。将四氧化三铁纳米片加到基础油液体石蜡LP中，在UNT摩擦磨损实验机上考察其作为LP添加剂后的摩擦磨损性能，采用SEM分析磨损表面形貌和表面膜元素组成及含量。

粉末X射线衍射（XRD）是最常用的表征方法之一。考察LDHs插层组装体的(003)衍射峰位置是否相对于层间为无机阴离子LDHs的(003)衍射峰位置向低衍射角度方向发生位移，通常是判断有机分子或离子是否插入层状主体层间形成超分子结构插层产物的有力证据之一。

红外（FT-IR）是检测LDHs插层组装体的层间阴离子，确定其超分子结构的重要方法之一。热重（TG）和差热分析（DTA）是表征LDHs插层组装体热稳定性的常用方法，以一定的升温速率，通过测量样品质量损失情况，来研究物质的成份和结构。如与质谱联用，通过分析LDHs插层组装体在热处理过程中所分解的气相产物可了解LDHs插层组装体的热分解机理。透射电镜（TEM）和扫描电镜（SEM）通常用于表征水滑石的分布和分散性，可反映LHDs材料的形貌、粒径大小等信息。比表面分析（BET）粉体的比表面积是指单位质量粉体颗粒外部表面积和内部孔结构的表面积之和，单位m2/g，通过此方法可判断吸附性能

SEM的应用范围

生物：种子、花粉、细菌医学：血球、病毒动物：大肠、绒毛、细胞、纤维＞材料：陶瓷、高分子粉末、环氧脂化学、物理、地质、冶金、矿物、污泥（杆菌）、机械、电机、及导电性样品如半导体（IC、线宽测量、断面、结构观察）电子材料等。

SEM的优点具有较光学显微镜好的解析度具有较大的景深，利于观察样品表面形态和尺度。能提供具实体感的立体影像。

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