扫描电镜生产厂家

1、盈普仪器科技（宁波）有限公司

2、深圳市瑞盛科技有限公司

3、深圳市纳科科技有限公司

4、惠州市华高仪器设备有限公司

5、苏州安原仪器有限公司

扫描电子显微镜，简称：扫描电镜，英文名称：SEM(ScanningElectronMicroscope)。它是用细聚焦的电子束轰击样品表面，

通过电子与样品相互作用产生的二次电子、背散射电子等对样品表面或断口形貌进行观察和分析。现在SEM都与能谱(EDS)组合，可以进行成分分析。所以SEM也是显微结构分析的主要仪器，已广泛用于材料、冶金、矿物、生物学等领域。

一、制造水平：COXEM【酷塞目】制造两个系列钨灯丝SEM，在这一档达到世界先进水平。

具体体现在三个方面：

1、图像分辨率高和图像质量好

2、硬件配置最佳，稳定性好

3、扩展分析能力强，可装载多种功能附件。

在中国的服务机构：COXEM【酷塞目】Beijing Office.

二、销售方式：COXEM公司在中国大陆是直销政策，不会授权给代理商。

这是大型精密分析仪器技术特点决定的，直销销售和技术支持服务，是最终用户利益的根本保障。

COXEM公司在中国大陆没有任何授权代理商，所有打着COXEM扫描电镜代理商旗号的公司，均没有得到COXEM的认可。COXEM[酷塞目]希望用户与COXEM总部或者COXEM北京办公室直接联系。

1926 Busch 发现电子可像光线经过玻璃透镜偏折一般， 由电磁场的改变而偏折。1931德国物理学家Knoll 及Ruska 首先发展出穿透式电子显微镜原型机。

发展历史如下：

1873 Abbe 和Helmholfz 分别提出解像力与照射光的波长成反比。奠定了显微镜的理论基础

1897 J.J. Thmson 发现电子

1924 Louis de Broglie (1929 年诺贝尔物理奖得主） 提出电子本身具有波动的物理特性， 进一步提供电子显微镜的理论基础

1926 Busch 发现电子可像光线经过玻璃透镜偏折一般， 由电磁场的改变而偏折

1931德国物理学家Knoll 及Ruska 首先发展出穿透式电子显微镜原型机

1937 首部商业原型机制造成功（Metropolitan Vickers 牌）

1938 第一部扫描电子显微镜由Von Ardenne 发展成功

1938～39 穿透式电子显微镜正式上市（西门子公司，50KV~100KV，解像力20~30&Aring）

1940～41 RCA 公司推出美国第一部穿透式电子显微镜（解像力50 nm）

1941～63 解像力提升至2~3 Å （穿透式） 及100Å （扫描式）

1960 Everhart and Thornley 发明二次电子侦测器。

1965 第一部商用SEM出现（Cambridge)

1966 JEOL 发表第一部商用SEM(JSM-1)

1958年中国科学院组织研制

1959年第一台100KV电子显微镜 1975年第一台扫描电子显微镜DX3 在中国科学院科学仪器厂（现北京中科科仪技术发展有限责任公司）研发成功

1980年中科科仪引进美国技术，开发KYKY1000扫描电镜

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