怎么统计sem膜孔不规则孔径分布

）先做一个N2吸附测试，得到吸附等温线；然后用不同的计算模型分析表面积和孔径分布；

2）比表面积可以看BET数据或langmuir数据，大部分人喜欢用BET数据；

3）孔径分布可以参考DFT、HK或BJH数据，这个由材料的孔径确定。

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题，喷金或者喷碳就可以解决.

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