为什么看文献里纳米棒的SEM和TEM都那么纯，我做的却是什么形貌都有

可能有几个原因：

1，大家的制备方法不一样，导致形貌的整齐性不一样。

2，实验的参数条件不一样导致形貌不同。

3，文献里的图片可能只是截取了整齐的那一部分作为图片，并不是全局的图片

2.2。材料特征。场发射扫描

电子显微镜（SEM，JEOL6701F）被用来研究

的形貌，样品的颗粒尺寸。透射电子

样品的显微镜和元素的组合物均

通过JEM-2100F（日本电子）测定加上能量分散

X射线检测器（EDX，菲尼克斯）系统。广角和低角度

将作为得到的样品的X射线粉末衍射（XRD）是

记录在日本理学D / MAX-2500与Cu靶辐射（λ=1.54056

Å）运行在40千伏和200毫安。拉曼光谱测量结果

使用来自Thermo Scientific的一个DXR用激光进行

波长为532纳米。来计算孔径分布和

孔体积，氮吸附和脱附等温线

在77.3ķ测定用AUTOSORB-1的比表面积分析仪

从康塔。的N的N掺杂多孔碳含量为

通过使用Flash EA1112 NHC元素分析法测定。

进行热重（TG）分析，S / C复合材料

上TG / DTA6300在N2

流，以获得在S含量

复合材料。

一个四接触方法应用于测量粉末

多孔炭的电子导电性。的粉末样品是

用两个不锈钢柱塞，其压向磁盘在4MPa

阻力在四线吉时利2400数字万用表测量

模式。样品的导电率，根据算出

电阻和盘的尺寸。

通过X射线得到的表面元件的信息

光电子能谱（XPS）对热进行

科学ESCALAB250Xi使用200瓦单色铝Kα

辐射。在500微米的X射线斑点用于XPS分析。该基地

在分析腔室压力为约3×10 -10毫巴。所有

XPS结合能报告的数据是基于已校准

烃Ç1S线从外来碳284.8电子伏特。谱

分别配备了洛伦兹 - 高斯函数和智能背景

使用热爱维稳特软件。

all data a represented as the mean ± sem

词典结果

all data a represented as the mean ± sem

所有数据均为平均扫描电镜

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