扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求

扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求,第1张

SEM的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑

SEM就是观察表面形貌的一种方法。

对于块状材料,如果观察断口形貌,则要把样品打断,将断口在丙酮中超声处理,去除碎渣,再喷碳或金。

对于抛光样品,需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。

sem的样品可以是大的块状,较小的话就镶样,也可以做粉末样。而tem的样呢一般是直径3mm的圆片,而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔,也就是说有薄区,如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑


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