测sem时的硅片的作用

检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜，硅片是生产集成电路、分立器件、传感器等半导体产品的关键材料，是半导体产业链基础性的一环。

楼下误导。75NF75是 ST的 75V,75A 场效应管，理论上说75NF75更好。

不过75NF75只适用于48V或者36V控制器，用于60V以上的控制器则不够用，容易击穿。如果你要做60V或者72V控制器，建议你要用100V,100A的MOS管。东芝有这个规格，客户广泛。有疑问可以找我再沟通。

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