用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好?小夏•2023-3-15•服务器知识•阅读25想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.粗糙组和厚度是完全两个概念,二者之间没有直接的联系和差别。AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。而你SEM做出来的厚度,只是表征材料厚度的,和表面粗糙度没有联系欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云原文地址:https://www.xiayuyun.com/zonghe/125588.html厚度镀层或者材料薄膜赞 (0)打赏 微信扫一扫 支付宝扫一扫 小夏管理员组00 生成海报 《魔兽世界》安苏服务器的玩家为什么被称为安苏贵族?上一篇 2023-03-15开个单机传奇怎么弄,来大神教教? 下一篇2023-03-15 发表评论 请登录后评论... 登录后才能评论 提交评论列表(0条)
评论列表(0条)