如果仅仅是观测形貌,SEM就可以,只要粒径不是小到需要高分辨的程度。如果需要对晶体结构有所了解,最好还是做TEM。粉末样品还是比较容易制备的。
可以。SEM 中有三个扫描圈:物镜极靴内的扫描线圈是用于电子探针在样品表面扫描;观察和照相用显象管中的扫描线圈是用于控制阴极摄像管(CRT)中的电子束以便在荧光平上作同步扫描。SEM进行形貌分析时都采用光栅扫描方式。SEM 的倍率放大是通过改变镜筒中扫描电圈电流大小来控制的,这样就可以改变样品扫描区域大小,进而改变倍数。我自己碰到的图像漂移有:1。样品固定不牢固,或者样品太。因此样品大小要合适,并用导电胶固定牢固。
2。刚放入样品,开始观察时图像漂移较大,可等半小时左右在开始,图像漂移消除或减弱。
3。样品导电性差,荷电现象导致图像漂移不清楚,可降低电压或者样品表面喷金(碳)处理。
4。扫描电镜对中不好导致聚焦过程中图像移动。
5。高倍观察时,环境振动也会导致图像漂移或者浮动。
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