TEM,EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀?

TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜

EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive X-ray spectroscopy

SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜

FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜

STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜

AFM：Atomic force microscopy原子力显微镜

XRD：X-ray diffractionX射线衍射

XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱

FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪

UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱

SEM TEM 都是主要用来分析形貌。他两相比较TEM的分辨率要高于SEM。TEM给出的是一个平面图，可以告诉你样品的形貌特这，尤其是孔材料用TEM分析最好。SEM是分析表面形貌结构的，给出的是立体图，对观察棒状，球状，等等材料材料有很好的视觉效果。EDS是分析成分的，一般是配套于TEM仪器上。它分析的是样品表面面某个小的部分的元素组成，不能代表样品整体组成。

进行元素分析的信号主要是作用区发射的元素特征X射线，俄歇电子，

阴极荧光，背散射电子等，特征能量损失电子。

SEM

常常使用：EDS，WDS

分光特征X射线；

俄歇电子需要超高真空环境，往往以俄歇电子谱仪的商品出现，也可归入扫描电镜范畴；背散射电子携带微区不同平均原子序数区域的反差信息，定性的了解原子序数高低或者材料密度分布；阴极荧光光谱范围在紫外，可见或红外波段所发射的电磁辐射，这种现象可以被用来检测矿物，半导体和生物样品中痕量元素（ppm级别，用X射线波谱WDS或者X射线能谱EDS都是不能实现的）的分布。

TEM常使用特征x射线和特征能量损失电子，

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