高分子材料测sem可以不用脆断吗

高分子材料测sem可以不用脆断吗,第1张

高分子材料测sem可以不用脆断

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。

1 XRD(X-ray diffraction)是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。

2 SEM(扫描电子显微镜)是一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

3 AFM (原子力显微镜)是一种表面观测仪器,与扫描隧道显微镜相比,能观测非导电样品。

XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。

如果你的不锈钢可以用手掰弯的话。你可以试试对样品掰弯处理,因为氧化铝模板是脆性的,所以在掰弯的时候肯定有地方裂开,裂开往上翘的角度大的在平面SEM中就可以侧向看到断面,我用过这个方法,还算是比较有效的方法


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