SEMEDX在测表面元素的时候测得多深？拜托了各位 谢谢

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>

SEM-EDX

分析

借助扫描电镜和X-射线能谱分析(SEM-EDX)的方法,研究了加硅营养液中培养的高羊茅草,对褐斑病和腐霉枯萎病的抗病作用及其作用机制,

解释：

abbr. 扫描式电子显微镜（scanning electron microscope）；标准电子组件（Standard Electronic Modules）

n. (Sem)（泰、柬）森（人名）；(Sem)（西、挪）塞姆（人名）

读法：

英 [,es i: 'em]

用法：

SEM-EDS 能谱 能谱分析 扫描电镜

SEM-EDX 分析 能谱分析 能谱仪 谱分析

TSINGHUA SEM 理学院 清华经管学院 清华大学经济管理学院

近义词：

microscope

读法：

英 [ˈmaɪkrəskəʊp]  美 [ˈmaɪkrəskoʊp]

解释：

n. 显微镜

用法：

Scanning electron microscope 扫描电子显微镜 扫描电镜 扫描式电子显微镜 电子显微镜

Digital Microscope 数码显微镜 该相机还支持数码显微 数字显微镜 显微数码

petrographic microscope 岩相显微镜 岩相显微镱  [光] 岩石显微镜

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