无论是金属材料还是塑胶材料,在断口形貌观察上,一般来说是先宏观再微观。
对于金属结构件材料,常常由于存在内部残余应力,以及疲劳损伤、存在杂质、表面缺陷等,容易存在微裂纹。微列纹在残余应力或外部应力持续作用下,向两边延展,当达到某一程度,造成整体脆性断裂。因此,一般来说,最初微裂纹的位置由于双边都是刚性的材料,会存在摩擦,形成较其他位置光滑,而最后断裂的位置表面粗糙。
在初步的宏判断之后,更进一步的,应该使用显微镜及扫描电镜SEM做微观断口形貌观察。
从提供的图片上看,可能的薄弱优先断裂位置如下图。
具体的,帆泰检测对于金属、非金属材料的断口形貌分析上是相当专业的,不妨可以电话咨询帆泰检测的专家,可以及早的改进设计,消除隐患。
分析检测TEM测试:1.ZSM-5的TEM如何制样?
答:在玛瑙研钵中加上酒精研磨,在超声波中分散,滴到微栅上就可以了。辐照的敏感程度与SiAl比有关,SiAl比越大越稳定。
2.对于衍射强度比较弱,寿命比较短的高分子样品,曝光时间是长一些还是短一些?
答:因为衍射比较弱,虽然长时间曝光是增加衬度的一种方法,但是透射斑的加强幅度更大,反而容易遮掩了本来就弱得多得点,而且样品容易损坏,还是短时间比较合适。我曾经拍介孔分子筛的衍射,比较弱,放6-8s,效果比长时间的好。
3.请教EDXS的纵坐标怎么书写?
答:做了EDXS谱,发现各种刊物上的图谱中,纵坐标不一致。可能是因为绝对强度值并不太重要,所以x射线能谱图纵坐标的标注并没有一个统一的标准。除了有I/CPS、CPS、Counts等书写方法外,还有不标的,还有标成Intensity或Relative Intensity的,等等。具体标成什么形式,要看你所投杂志的要求。一般标成CPS的比较多,它表示counts per second,即能谱仪计数器的每秒计数。
4.EDAX和ED 相同吗?
答:EDAX有两个意思,一指X射线能量色散分析法,也称EDS法或EDX法,少用ED表示二是指最早生产波谱仪的公司---美国EDAX公司。当然生产能谱仪的不只EDAX公司,还有英国的Oxford等。
ED指的是扫描电子显微镜(SEM)或透射电子显微镜(TEM)上用的一种附属分析设备---能谱仪,或指的是最早生产能谱仪的公司---美国伊达克斯有限公司,或这种分析技术。当我们在电镜上观察电子显微图像的同时,可以用这种附属设备分析显微图像上的一个点,或一个线或一个面上各个点所发射的X射线的能量和强度,以确定显微图像上我们感兴趣的哪些点的元素信息(种类和含量)。
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