SEM扫描电镜图怎么看，图上各参数都代表什么意思

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料：百度百科-扫描电子显微镜

回想在湖大材料院的本硕7年，真的很感慨，学校本身换了3个校长，从985到双一流B类，而材料院依旧是二级学科。再看看隔壁的中南，双一流A类，材料院是一级学科。硬件方面，湖大材料院的电镜至少有7年没更新过了，我的研究生实验，有很大一部分的表征都是在中南做的（TEM，AFM，SEM），TEM和SEM在湖大材料院也有，但是隔个三五天就莫名其妙的要维护，而且预约也要等至少两周。更夸张的是，某些大老板专心搞工程，自己的实验室已经几年没更新过了，试问学生怎么搞学术呢？师资方面，几位老教授都是搞项目的大老板，他们早已评上正教授因此没有科研压力，说白了就是重心都在搞工业生产方面不在学术上，学生如果只是想要混文凭还是不错的选择，年轻一些的老师也搞学术的，但是从成果上看，发IF>6的Carbon已经是新闻了（不信可以关注微信公众号里的湖大材料院）。所以建议想要搞学术的同学还是去中南或者湖大化工院，那里还是有大牛可以带你们发IF>10的文章的。里面还有几个极品老板各种忽悠学生去做项目，好一点的就给2000，差的就500一个月，更极品的老板会为了逼你写第二篇文章，就算你第一篇写好了，也拖着不给改，这种累斗累的方式，我算是见识过了。以上说的都是我亲眼看到或者经历过的，里面必然会触碰到某些人的神经带来不必要的麻烦，所以如果留言有很多谩骂也很正常，只希望能帮到那些准备读研的同学。很多经历过的朋友都选择沉默怕带来不必要的麻烦，而且那毕竟是母校，不想伤害其尊严。但是在这里我不得不发表出来，为了更多的同学不要再掉坑里，也希望某些人看到以后能唤醒其良知，别再这么坑学生了，湖大成B类难道就都是别人的原因吗？

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