SEMEDX在测表面元素的时候测得多深？拜托了各位 谢谢

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>

SEM scanning electron microscope.扫描电子显微镜.当然还有其它的解释。

工作原理：

从电子枪阴极发出的直径20(m～30(m的电子束，受到阴阳极之间加速电压的作用，射向镜筒，经过聚光镜及物镜的会聚作用，缩小成直径约几毫微米的电子探针。在物镜上部的扫描线圈的作用下，电子探针在样品表面作光栅状扫描并且激发出多种电子信号。这些电子信号被相应的检测器检测，经过放大、转换，变成电压信号，最后被送到显像管的栅极上并且调制显像管的亮度。显像管中的电子束在荧光屏上也作光栅状扫描，并且这种扫描运动与样品表面的电子束的扫描运动严格同步，这样即获得衬度与所接收信号强度相对应的扫描电子像，这种图象反映了样品表面的形貌特征。第二节 扫描电镜生物样品制备技术大多数生物样品都含有水分，而且比较柔软，因此，在进行扫描电镜观察前，要对样品作相应的处理。扫描电镜样品制备的主要要求是：尽可能使样品的表面结构保存好，没有变形和污染，样品干燥并且有良好导电性能。

探针片，国内的标准约60-80um，当然是用于电子探针，电子探针分析时通过镀金或者镀炭达到导电的目的，然后分析；

光薄片，其实在国内指的是用于矿相鉴定的光片，即反光用的，有两种，一种是很厚很厚的，可以压在橡皮泥上放到反光显微镜下去看的；另一种厚度不定，因为主要是用于反光，不破损即可；

岩石薄片，就是用于显微镜鉴定的片子，通过30um，国内的情况是加盖薄片，在这里盖片有好处也有不好处，好处是有盖片，显微镜鉴定的时候很好，很清楚，不好就是盖上去了取不下来，至少不容易取下来，如果你要做电子探针或者SEM的话就没办法了，不盖吧，显微镜鉴定的时候可能会有点干扰；

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