原子力显微镜和扫描电镜的异同点

原子力显微镜和扫描电镜的异同点：

1、共同点：都是放大。

2、不同点：

1）、原子力显微镜（Atomic Force Microscope ，AFM），一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器。它通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。

2）扫描电子显微镜（SEM）是1965年发明的较现代的细胞生物学研究工具，主要是利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态。

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当分辨率在纳米和原子范围时，扫描电镜（sem）和原子力电镜（afm）是我们今天可以获得的最有效的两种显微技术，各有优劣。它们最根本的区别在于它们操作的环境不同。sem需要在真空环境中进行，而afm是在空气中或液体环境中操作。因此如果是要测定液体中细微颗粒的形态，afm更为适合一些。通常afm扫描含水的试样是把它和扫描探针放在液体中进行的，因为afm不是以导电性为基础，所以图像和扫描模件在液体中都不会受干扰。

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