方法原理

复电阻率（CR）法测得的频谱包含了由导电性引起的近场区电磁谱（SEM）和由电极化性引起的激电谱（SIP），两种谱在频带上占据不同的位置。可用数学物理模型Cole-Cole模型和Cole-Brown模型反演拟合分离，求取多个SEM和SIP谱参数[1，2]。

在复电阻率法中观测到的电磁场（SEM）主要是近区场，场的区间划分依据感应数p的大小进行［3，4］：

电法勘探成果文集

均匀半空间上偶极-偶极排列的电磁相位谱研究表明：当p＜2时为近区场，p=2～7.6时为中区场，p＞7.6为远区场。其中近区场只与距离（r）有关，中区场与距离（r）和频率（f）两个因子有关，远区场仅与频率（f）有关。电偶源的各类电磁法，大多选用远区场工作（如MT法等），只要改变频率就能改变探测深度。复电阻率（CR）法主要为近区场，只有改变极距才能改变探测深度，是一种几何测深。由于近区场电磁谱（SEM）的强度大，并在频带上与SIP谱有部分重叠，在SIP法发展的前期一直把它作为干扰进行消除，SEM谱中包含的地下导电性变化的信息未被利用。通过对SEM谱进行的系统研究与开发，引入了多个重要的SEM参数———电磁电阻率ρω、相位极值比、视电磁充电率比，解决了近区场SEM谱的应用问题，并在实践中获得了较好的地质效果。

正演计算研究和实际应用表明：SEM参数具有明确的物理意义和量纲，与地下导电性结构的量值有关，对导电性目标体的异常响应灵敏度比视几何电阻率（ρS）高2～4倍，几何分辨率小于四分之一偶极距。由于近场区电磁参数主要与极距有关，用它们构成的拟断面是几何测深断面，便于与SIP参数所构成的几何测深断面对比；SEM参数的探测深度趋近于r／2，且受地表导电性不均匀的影响很小。

质量管理中sip是标准检验指导书的意思。

检验指导书是具体规定检验操作要求的技术文件，又称检验规程或检验卡片。其特点是技术性、专业性、可操作性很强，要求文字表述明确、准确，操作方法说明清楚、易于理解，过程简便易行；其作用是使检验操作达到统一、规范。

由于产品形成过程中具体作业特点、性质的不同，检验指导书的形式、内容也不相同，有进货检验用检验指导书、过程、组装和成品落成检验用指导书。

扩展资料

检验指导书的内容：

(1)检测对象:受检产品名称、型号、图号、工序(流程)名称及编号；

(2)质量特性值:按产品质量要求转化的技术要求，规定检验的项目；

(3)检验方法:规定检测的基准(或基面)、检验的程序和方法、有关计算(换算)方法、检测频次、抽样检验时有关规定和数据；

(4)检测手段，检测使用的计量器具、仪器、仪表及设备、工装卡具的名称和编号:

(5)检验判定:规定数据处理、判定比较的方法、判定的准则；

(6)记录和报告:规定记录的事项、方法和表格，规定报告的内容与方式、程序与时间；

(7)其他说明。

参考资料来源：百度百科-检验指导书

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