简述利用SEM、TEM、FTIR、Raman、CV、EIS、BET、XRD和质谱可获得什么信息？

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息

TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成

FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等

Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。

CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压

EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息

BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。

XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。

质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱

）先做一个N2吸附测试，得到吸附等温线；然后用不同的计算模型分析表面积和孔径分布； 2）比表面积可以看BET数据或langmuir数据，大部分人喜欢用BET数据； 3）孔径分布可以参考DFT、HK或BJH数据，这个由材料的孔径确定。

碳酸钙样品用SEM、XRD法和BET法测定准确。SEM、XRD法和BET法测试得到的纳米碳酸钙粒径结果相近，SEM法测试纳米碳酸钙粒径的同时可观察其粒子形貌，但该方法存在取样代表性问题。BET法测试结果受纳米碳酸钙表面处理影响。

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