表面成分太少,SEM的EDS测不出来,那还能用什么设备能测呢?

表面成分太少,SEM的EDS测不出来,那还能用什么设备能测呢?,第1张

�挥幸话俚陌伞�pwang526(站内联系TA)用ICP看看,XPS也精度不够的雏烹(站内联系TA)ICP 貌似 也很贵 :rol:dafeng001(站内联系TA)看lz是测什么元素啦,对于轻元素EDS测得也不准啦,如果有时有新的物相就做XRD,如果可以挂下来 做个红外, 当然 这样看你要测的是什么元素 化学分析的方法也是可以的 总之 lz给的信息太少了songjinlong(站内联系TA)表面氟化处理了 想要测O C F Sisongjinlong(站内联系TA)Originally posted by dafeng001 at 2011-03-04 15:42:14:

我想O F Si的含量是微量的吧 我现在想用电子探针测 您看 能行吗 电子探针和EDS差不太多 都是半定量的 实在需要这个数据 还是做个元素分析吧xiaxue_326(站内联系TA)用FTIR,红外测试试试吧,也是表征成分的。

想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答:

献峰科技指出:在Si片上镀一层非晶碳膜(厚度为几十个nm,导电性能较差),用金刚石刀直接切割出试样,然后进行SEM观察,希望得到薄膜的厚度。

第一次去做时表面没有喷金,看到的断面效果也很差,很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。

希 望 采 纳 不 足 可 追 问


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