请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。选购原子力显微镜推荐Park NX-Hivac。

NX-Hivac的优点如下：

1、NX-Hivac 真空自动控制

Hivac 管理器通过一键单击在逻辑和视觉上控制最佳真空条件抽气和排气过程来实现高真空。各个过程通过颜色和图示变化得到直观监控，一键单击后您即可无需操心真空操作顺序。更快速、更简便的真空控制软件使原子力显微镜的使用更便捷更高效。

2、高级自动化特点

NX-Hivac具有大量功能从而能够最大化减少用户输入。换言之，您可以更快速地扫描，提高实验室产量。

3、配备电控载物台的StepScan 自动化扫描

StepScan允许用户能够对器件进行编程从实现而快速便捷地多区域成像。NX-Hivac让您只需五步即可完成样本扫描：扫描、提升悬臂、移动电动平台至用户定义坐标区域、进针及重复扫描。如此可极大地提高生产率，最大化减少用户输入。

想要了解更多原子力显微镜的相关信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park成立至今，致力于新产品和新技术的开发，为客户解决各种技术难题，提供最完善的解决方案。Park的原子力显微镜以高尖端产品质量和快捷优质的售后服务受到广大客户的认可；同时，为了给客户提供高效便捷的售后服务，在北京代表处专门建立有售后服务中心并配有备件仓库，助力客户更好的服务。

高分子材料测sem可以不用脆断

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。

1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。

2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。

XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。

polishing scratchgrinding crack

磨:    millmillstones...   details>>

痕:    marktrace...   details>>

磨痕疤:    polish mark...   details>>

研磨痕:    grinding marks...   details>>

打磨痕迹:    buff marks...   details>>

链状磨痕:    block rake...   details>>

磨黑:    mohei...   details>>

磨后圆球率的测定:    determination for sphericity of ion ex ......   details>>

磨合钻头:    bit break-in procedure...   details>>

磨胡椒子的小罐。:    pepper-mill...   details>>

磨合轴颈:    worn in journalworn-in journal...   details>>

磨花玻璃器皿:    polished glassware...   details>>

磨合运转时期偏移力:    deflection force for run-in period...   details>>

磨滑:    ground upwear smooth...   details>>

磨合运转时间:    break-in periodrunning-in time...   details>>

---