【求助】纳米薄膜制备与材料表征需要什么仪器设备

请问现在世界上最好纳米薄膜制备与材料表征需要什么仪器设备，分别是哪个国家哪个公司的最好？本人对纳米薄膜的制备及表征不是很懂，希望路过的人给你帮助，我再做细致的调研，越详细越好，越多越好。 如果制备的话，很多用MBE或者MOCVD吧，表征的话可以用SEM，AFM，XRD，XPS等等，你得看你具体的样品，xuejiang(站内联系TA)长春应用化学研究所有人在做纳米薄膜，你可以问一下，制备仪器不算贵。表征的话就用SEM，tem，xrd等。汉王重出江湖(站内联系TA)磁控溅射仪，AFM，XRD，XPSlff0432(站内联系TA)“最好的”需要很多钱，比如很好的XPS和AFM请问现在世界上最好纳米薄膜制备与材料表征需要什么仪器设备，分别是哪个国家哪个公司的最好？本人对纳米薄膜的制备及表征不是很懂，希望路过的人给你帮助，我再做细致的调研，越详细越好，越多越好。 等待高手回答ylkbyd007(站内联系TA)可以用MBE 磁控溅射、LB拉膜机、真空蒸镀。表征 可以用 AFM ＸＲＤ TEM SEMpaperhunter(站内联系TA)NOVA系列全自动比表面和孔径分布分析仪纳米粒度仪（Dylisizer-2）cai_yuanyuan(站内联系TA)可以用MBE 磁控溅射、LB拉膜机、真空蒸镀。表征 可以用 AFM ＸＲＤ TEM SEM贝壳摩尔(站内联系TA)低角度X射线衍射及X射线反射率测量！mengyonghong(站内联系TA)表征纳米薄膜层构参数和光学参数，最长用的是椭偏仪，包括：光谱椭偏仪、激光椭偏仪，还有专门用于过程监控的在线椭偏仪。国外厂家：美国1家、德国1家、法国2家（分别被日本和匈牙利收购了）；国内厂家：1个专业椭偏仪器厂家（北京量拓），以及几个有椭偏仪的厂家竹林风bamboo(站内联系TA)一般做出来后，XRD,SEM(表面和截面)这些是必须的。XRD可以分析结构相，有人根据XRDd 三强峰来计算晶粒大小，我觉得这个不可靠，薄膜受基底影响，峰位和峰强都会有一定的改变的。表面SEM分析表面形貌，看是否有微裂纹（这个对纳米薄膜来说很重要，有微裂纹的薄膜基本上是失败了），晶粒大小与均匀度，表面粗糙度等等。还有很重要的是截面SEM,这个对纳米薄膜的表征是必须的。要说明你做的是纳米薄膜，就必须提供薄膜的厚度，以及薄膜与基底的结合情况。。。

DOI: 10.1002/smll.202107250

颗粒物（PM）污染已成为当下一个严重的环境问题。据广泛报道，纳米纤维过滤器可有效去除污染空气中的PM。在此，研究者提出了一种高效轻质的PM空气过滤器，该过滤器采用由气流场和二次感应电场等辅助场组成的气流协同无针静电纺丝技术制备而成。与使用其他喷丝头的无针静电纺丝相比，其显著提高了纤维空气过滤器的生产率、纤维直径和孔隙率。方便面状的纳米纤维结构也可以通过调节气流速度来进行控制。实验表明，该类空气过滤器具有较高的（2.5μm颗粒物）PM2.5去除效率（99.9%）和（0.3μm颗粒物）PM0.3去除效率（99.1%）、低压降（PM2.5为56Pa，PM0.3为78Pa），以及较大的容尘量（PM2.5最大值为168g/m2，PM0.3最大值为102g/m2）。同时，对所提出的PM过滤器进行测试，其适用于香烟烟雾和锯末等其他污染空气过滤。综上，对这种极具吸引力的纳米纤维结构的大规模合成展现了高性能过滤/分离材料的巨大潜力。

图1.气流协同无针静电纺丝（ASNE）技术和纳米纤维产物示意图。a）ASNE的3D示意图。b）通过横截面视图展示ASNE的内部结构。c）纺丝溶液的力分析及纺丝过程中聚合物射流的演变。d）沉积在PP无纺布上的PVA纳米纤维的数字图像。插图为侧视图数码照片。e）由ASNE制造的PVA纳米纤维的SEM图像。f）PVA和PP样品横截面的SEM图像。插图为横截面的放大图像，展示出混乱的结构。

图2.灵感产生过程和工程化纳米纤维。a）方便面以及方便面和面粉的SEM照片。b）在不同气流速度下针式静电纺丝和ASNE工艺中聚合物射流的视频说明。c）与（b）相关的不同气流速度下的欧姆流动长度。d）在不同气流速度下制造的纳米纤维的曲率。插图为计算说明。e）在不同气流速度下，通过针式静电纺丝和ASNE制备的PVA纳米纤维的SEM图像和相应的纤维直径分布图。

图3.空气过滤性能。采用针式静电纺丝和ASNE工艺制备的PVA纳米纤维膜的a）空气过滤效率、b）压降、c）品质因数和d）容尘量，使用0.3µm颗粒物进行测试。采用针式静电纺丝和ASNE工艺制备的PVA纳米纤维膜的e）空气过滤效率、f）压降、g）品质因数和h）容尘量，使用2.5µm颗粒物进行测试。

图4.a）在同一环形框架上具有不同基重的空气过滤器的数字图像。b）在PM2.5过滤介质下，过滤效率和压力随着基重的变化而变化。c）在PM2.5过滤介质下，品质因数随着基重的变化而变化。d）在PM2.5过滤介质下，将这种纳米纤维过滤器与其他过滤器进行比较。e）在PM0.3过滤介质下，过滤效率和压力随着基重的变化而变化。f）在PM0.3过滤介质下，品质因数随着基重的变化而变化。g）在PM0.3过滤介质下，将这种纳米纤维过滤器与其他过滤器进行比较。h）压降和过滤机制演变随着测试时间的变化而变化。i-k）不同状态下沉积在纳米纤维上的气溶胶颗粒的SEM图像。比例尺代表1µm。

图5.a）PVA纳米纤维交联前后的SEM图像。比例尺代表10µm。b）PVA纳米纤维膜交联前后的FTIR光谱。c）不同交联时间的PVA纳米纤维的水接触角。d）不同交联时间的PVA纳米纤维的空气过滤效率和阻力。

图6.a）不同纤维直径（300、200和100nm）的单纤维区域的速度分布模拟。b）具有不同连接结构的纤维区域的速度分布模拟：合并纤维、交叉纤维和卷曲纤维。

图7.a）室外过滤测试仪示意图。b）过滤后PVA纳米纤维膜的数字图像，以及过滤后PVA纳米纤维膜正面和背面的SEM图像。c,d）使用不同颗粒介质进行PVA纳米纤维膜过滤试验。e）2020年12月1日至2020年12月31日在中国成都进行的室外过滤测试。插图为延长周期测试的自动测试设置。f）PVA纳米纤维覆盖一般PP口罩的图片。g）不同流速下普通口罩和覆盖有PVA纳米纤维的普通口罩的过滤效率和阻力比较。

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。

另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了，基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片，必须保持分散液状态来做电镜扫描。

---