在做SEM前要对式样表面做那些处理

SEM就是观察表面形貌的一种方法。

对于块状材料，如果观察断口形貌，则要把样品打断，将断口在丙酮中超声处理，去除碎渣，再喷碳或金。

对于抛光样品，需要将抛光面腐蚀。腐蚀剂根据不同材料选择。

SEM搜索引擎营销由于其精准性及低广告成本优势，成为国内及国际客户重要的网络营销方式。下面的文章中，我大致讲解了，我们应该以什么样的步骤去做搜索营销：[如果您还知道SEM是什么，请访问我的博文,SEM是什么]? ]

第一步:了解产品/服务针对哪些用户群体

第二步:了解目标群体的搜索习惯 [目标群体习惯使用什么关键词搜索目标产品？]

第三步: 目标群体经常会访问哪些类型的网站

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第四步:分析目标用户最关注产品的哪些特性 [影响用户购买的主要特性，例如品牌、价格、性能、可扩展性、服务优势等等]

[b]第五步：竞价广告账户及广告组规划 [创建谷歌及百度的广告系列及广告组；需要考虑了管理的便捷，及广告文案与广告组下关键词相关性]

第六步:相关关键词的选择[我们可以借助谷歌关键词分析工具，及百度竞价后台的关键词分析工具，这些工具都是根据用户搜索数据为基础的，具有很高的参考价值]

[b]第七步：撰写有吸引力的广告文案

在广告文字中包括关键字，使相关性更高，并能抓住客户的眼球

突出产品/服务的竞争优势

在广告文字中包括号召性语言，让客户了解点击到您网站之后的下一步（例如：购买、定购、下定单、注册、闻讯、致电、了解更多）

第八步：内容网络投放 [如果您的预算有限，暂时不考虑投放内容广告，直接跳过这一步]

第九步：目标广告页面的设计[LANDING PAGE设计,关于LANDING PAGE设计技巧，大家可参考博文:8个技巧让设计转换为成功的销售 ]

包含重要的到下一步动作的引导，例如如何购买，了解更多

涵盖主要内容的引导链接

更好的用户体验（设计更友好的导航，例如设计不同类型用户的访问入口，进入之后显示适合这些用户的产品和服务)

第十步:基于KPI广告效果转换评估 (首先我们要实施基于用户行为分析的网站分析，例如谷歌分析、雅虎统计、omniture SiteCatalys ,如何您还不知道如何定义网站KPI，请访问我的博文,网站分析实践-KPI度量的定义)

只需要十个步骤，我们就能清楚了解到针对自己的产品及服务，我们应该怎么去做SEM搜索营销.不过这个方法只适合中小企业的广告主，对于大型广告客户需要分析更深层的用户行为,及广告点击流的数据分析。 好了，十个步骤已经说完了？听说耐特康赛SEM做的不错还得到了百度的认证.

聚焦离子束扫描电镜双束系统（FIB-SEM）是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统，同时具备微纳加工和成像的功能，广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。

以目前实验室配有的FIB-SEM的型号是蔡司的Crossbeam 540为例进行如下分析，离子束最高成像分辨率为3nm，电子束最高分辨率为0.9nm。该系统的主要部件及功能如下：

1.离子束： 溅射（切割、抛光、刻蚀）；刻蚀最小线宽10nm，切片最薄3nm。 

2.电子束 ： 成像和实时观察

3.GIS(气体注入系统)： 沉积和辅助刻蚀；五种气体：Pt、W、SiO2、Au、XeF2(增强刻蚀SiO2)

4.纳米机械手：  转移样品 

5.EDS： 成分定量和分布

6.EBSD ： 微区晶向及晶粒分布

7.Loadlock（样品预抽室）： 快速进样，进样时间只需~1min

由上述FIB-SEM的一个部件或多个部件联合使用，可以实现在材料研究中的多种应用，具体应用实例如下：

图2a和b分别是梳子形状的CdS微米线的光学显微镜和扫描电镜照片，从光学显微镜照片可以看出在CdS微米线节点处内部含有其他物质，但无法确定是什么材料和内部形貌。利用FIB-SEM在节点处定点切割截面，然后对截面成像和做EDS mapping，如图2c、d、e和f所示，可以很直观的得到在CdS微米线的节点处内部含有Sn球。

FIB-SEM制备TEM样品的常规步骤如图3所示，主要有以下几步：

1）在样品感兴趣位置沉积pt保护层

2）在感兴趣区域的两侧挖大坑，得到只有约1微米厚的薄片

3）对薄片进行U-cut，将薄片底部和一侧完全切断

4）缓慢移下纳米机械手，轻轻接触薄片悬空的一端后，沉积pt将薄片和纳米机械手焊接牢固，然后切断薄片另一侧，缓慢升起纳米机械手即可提出薄片

5）移动样品台和纳米机械手，使薄片与铜网（放置TEM样品用）轻轻接触，然后沉积pt将薄片和铜网焊接牢固，将薄片和纳米机械手连接的一端切断，移开纳米机械手，转移完成

6）最后一步为减薄和清洗，先用大加速电压离子束将薄片减薄至150nm左右，再利用低电压离子束将其减薄至最终厚度（普通TEM样品<100nm，高分辨TEM样品50nm左右，球差TEM样品<50nm）

一种如图4a所示的MoS2场效应管，需要确定实际器件中MoS2的层数及栅极（Ag纳米线）和MoS2之间的距离。利用FIB-SEM可以准确的在MoS2场效应管的沟道位置，垂直于Ag纳米线方向，提出一个薄片，并对其进行减薄，制备成截面透射样。在TEM下即可得到MoS2的层数为14层（图4c）， Ag纳米线和MoS2之间的距离为30nm（图4b）。

图5是一种锰酸锂材料的STEM像，该样品是由FIB-SEM制备，图中可以看到清晰的原子像。这表明FIB-SEM制备的该球差透射样非常薄并且有很少的损伤层。

FIB-SEM还可以进行微纳图形的加工。

图6a 是FIB-SEM在Au/SiO2上制备的光栅，光栅周期为150nm，光栅开口为75nm。

图6b 是利用FIB-SEM在Mo/石英上做的切仑科夫辐射源针尖，针尖曲率半径为17nm。

图6c 是在Au膜上加工的三维对称结构蜘蛛网。

图6d 是FIB-SEM在硅上刻蚀的贺新年图案，图中最小细节尺寸仅有25nm。

FIB-SEM可以对材料进行切片式的形貌和成分三维重构，揭示材料的内部三维结构。大概过程如图7a所示， FIB切掉一定厚度的样品，SEM拍一张照片，重复此过程，连续拍上百张照片，然后将上百张切片照片重构出三维形貌。图7b是一种多孔材料内部3×5×2um范围的三维重构结果，其实验数据是利用FIB-SEM采集，三维重构是利用Avizo软件得到，其分辩率可达纳米级，展示了内部孔隙的三维空间分布，并可以计算出孔隙的半径大小、体积及曲率等参数。

利用FIB-SEM配有的纳米机械手及配合使用离子束沉积Pt，可以实现微米材料的转移，即把某种材料从一个位置（衬底）转移到特定位置（衬底），并固定牢固。图8是把四针氧化锌微米线从硅片转移到两电极的沟道之间，从而制备成两个微米线间距只有1um的特殊器件。

最后，FIB-SEM还有很多其他的应用，例如三维原子探针样品制备，芯片线路修改等。总之FIB-SEM是材料研究中一个非常重要的手段。

不积珪步，无以至千里；不积细流，无以成江海。做好每一份工作，都需要坚持不懈的学习。

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