TEM,EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀?

TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜

EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive X-ray spectroscopy

SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜

FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜

STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜

AFM：Atomic force microscopy原子力显微镜

XRD：X-ray diffractionX射线衍射

XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱

FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪

UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱

刘粤惠、刘平安，X射线衍射分析原理及应用，化学工业出版社，北京，2003 ；

祁景王，X射线结构分析，同济大学出版社，上海，2003；

黄量，于德泉，紫外光谱在有机化学中的应用，北京：科学出版社，2000；

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通过研究内层电子结合能及其氧化态的变化,X射线光电子能谱(XPS)可以鉴别元素种类和价态、测定元素的相对含量、了解中心离子与配位原子的相互作用和验证量子化学理论。XPS已成为研究配合物中配位位点、电荷分配和配合物结构的有力工具。

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