用SEM测超薄薄膜厚度，如何制样才能保证导电性足够好？

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题，喷金或者喷碳就可以解决.

三价钛会在测定二价铁时干扰。

一般方法是溶解之后用氧化剂将钛和铁氧化为四价钛和三价铁。

用比较弱的还原剂（SnCl2）还原三价铁为二价铁，此时钛不被还原。用HgCl2除去剩余的SnCl2，用KMnO4滴定即可测得全铁含量。

思路很简单，用ADC0809做模数转化，将数字量通过C51进行简单的数制转化，通过LED数码管显示。首先将ADC0809与单片机连接好，用ADC的一个IN口连接一个滑动变阻器，仿真时调节滑动变阻器，实时显示欧姆值。设计思路就是，把电阻变化的模拟变化量转化为数字量输出显示。

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