求教怎么看BET和SEM的数据

求教怎么看BET和SEM的数据,第1张

)先做一个N2吸附测试,得到吸附等温线;然后用不同的计算模型分析表面积和孔径分布; 2)比表面积可以看BET数据或langmuir数据,大部分人喜欢用BET数据; 3)孔径分布可以参考DFT、HK或BJH数据,这个由材料的孔径确定。

SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息

TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成

FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等

Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。

CV:CV曲线可以测试得到很多信息,比如所需电沉积电压,电流,以及半导体行业可以得到直流偏压

EIS:EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位,阻抗信息,从而模拟出系统内在串联电阻,并联电阻和电容相关信息

BET:主要是测试材料比表面积的,可以得到材料的比表面积信息。

XRD:主要是测试材料的物性,晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。

质谱:主要用于鉴定材料的化学成分,包括液相质谱,气象质谱

碳酸钙样品用SEM、XRD法和BET法测定准确。SEM、XRD法和BET法测试得到的纳米碳酸钙粒径结果相近,SEM法测试纳米碳酸钙粒径的同时可观察其粒子形貌,但该方法存在取样代表性问题。BET法测试结果受纳米碳酸钙表面处理影响。


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