TEM,EDS ,SEM,FE-SEM,STM,AFM,XRD,XPS,FT-IR,UV-VISQ全称和中文名称是什么呀?

TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜

EDS:能量弥散X射线谱（Energy-dispersive X-ray spectroscopy

SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜

FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜

STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜

AFM：Atomic force microscopy原子力显微镜

XRD：X-ray diffractionX射线衍射

XPS：X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱

FT-IR：Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪

UV-VISQ：Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>

用化学镀的方法获得了不同含量的形态均匀的沉积在活性炭毡上的具有催化活性的金属钯，用于测试间歇反应器中亚硝酸根的还原性。镀液的浓度、晶种的形成步骤是决定金属钯的颗粒大小和形态的关键。钯种在碳毡外表面，当颗粒大小是96±22 nm时的含量是0.14 wt.% （重量百分比），而当形成金属钯薄层时，含金属钯的量达到了1.9 wt.%。用SEM, EDS, XRD 和 XPS方法对试验前、试验后的碳毡进行了表征。.

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