扫描电镜的样品为什么要导电

嘿嘿 这位同学应该刚刚接触到这个sem吧！简单的说吧——由于sem的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号，而若样品不导电怎或造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走，一定程度后就反复出现充电放电现象（charging)，最终影响电子信号的传递，造成图像扭曲，变形、晃动~~等等一些现象。建议：若果没有条件蒸镀导电膜的话 可以尝试用低真空做。如果没有低真空的话 ~~那你就看着办吧~运气好你有可能能拍到你想要的哦 ~

以上纯属个人观点，专业意见请查阅相关资料

楼主如果基体必须是不导电玻璃，如不能喷金，可以喷碳，这可以消除荷电问题，不妨碍形貌观察。如果不能喷涂导电膜，就得升级您使用的仪器：使用具有更高的低电压性能扫描电镜，玻璃水平放置，低电压在1kv-2kv之间找到合适的消除荷电的观察条件，或者玻璃片大角度倾斜消除荷电，提高加速电压获得更好的分辨率；可以选择低真空观察模式。

想准确测定厚度还是很麻烦的，关键就在于制样，关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的，标准名称我不太记得了，改天给你发过来也行（如果需要），大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍，然后把材料固化在树脂中，再做截面，或者抛光，然后再测定，关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题，喷金或者喷碳就可以解决.

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