献峰科技指出:在Si片上镀一层非晶碳膜(厚度为几十个nm,导电性能较差),用金刚石刀直接切割出试样,然后进行SEM观察,希望得到薄膜的厚度。
第一次去做时表面没有喷金,看到的断面效果也很差,很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。
希 望 采 纳 不 足 可 追 问
如果你的材料是没有磁性的就可以将材料分散在导电胶
上,观察效果应该还是可以的,你的效果不好可能是材料分散效果不好。如果你的材料是有磁性的,必须将材料分散到非晶态的
介质
中。
查看原帖>>
欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
献峰科技指出:在Si片上镀一层非晶碳膜(厚度为几十个nm,导电性能较差),用金刚石刀直接切割出试样,然后进行SEM观察,希望得到薄膜的厚度。
第一次去做时表面没有喷金,看到的断面效果也很差,很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。
希 望 采 纳 不 足 可 追 问
如果你的材料是没有磁性的就可以将材料分散在导电胶
上,观察效果应该还是可以的,你的效果不好可能是材料分散效果不好。如果你的材料是有磁性的,必须将材料分散到非晶态的
介质
中。
查看原帖>>
欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
评论列表(0条)