tem和sem的异同比较分析以及 环境扫描电镜，场发射电镜与传统电镜

TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜,场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用

xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的。

TEM:

透射电子显微镜（英语：Transmission electron microscope，缩写TEM），简称透射电镜，是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关，因此可以形成明暗不同的影像。通常，透射电子显微镜的分辨率为0.1～0.2nm，放大倍数为几万～百万倍，用于观察超微结构，即小于0.2μm、光学显微镜下无法看清的结构，又称“亚显微结构”。 TEM是德国科学家Ruskahe和Knoll在前人Garbor和Busch的基础上于1932年发明的。

其他的建议楼主查看文献啊，文献上讲解都是比较详细的，百度知道字数有限，只能给你粘贴这么多了

(ii) The white sample was divided into four parts and separately wasobserved by SEM (Leo5420, 10[1]20keV)by TEM (H-7100, 120 keVJEM-4000, 400 keV) and by HRTEM.

(ii) 将白色样品分为四份，分别用扫描电镜（leo5420，10 20 keV）、透射电镜（H-7100，120 keV；JEM -4000，400 keV）和高分辨透射电子显微镜观察。

The compositionof the product was analyzed by energy dispersive X-ray (EDX, JEM-2010).

通过能量分散型X射线（EDX，JEM-2010）分析生成物的成分。

Luminescenceexperiments were carried out by exposing the SiO2 nanowires to X-rayirradiation using a Philips set to deliver a dose of 20 Gy•min−1.

通过飞利浦仪器提供20 Gy•min−1剂量将SiO2纳米线置于X射线照射下进行了发光实验。

Theluminescence emission of the sample was measured using a high-sensitivitymultiplexed system with F/2.2 optics developed.

用开发的带F / 2.2光学器件的高灵敏度多路复用系统测量了样品的荧光发射。

Experimentswere conducted at low (25 240 K, heating rate 6K•min−1)and high (293 673 K, heating rate 50 K•min−1)temperatures.

在低温（25 240 K，加热速率6K•min−1）和高温（293 673 K，50 K•min−1）条件下进行了实验。

2. Results anddiscussion

2。结果与讨论

SEM (fig. 2(a))image reveals the presence of white product on TiSi film.

扫描电镜（图2（a））图像显示TiSi膜上有白色生成物。

Under higherresolution, the white product consists of large quantities of wire-likematerials and these wires are winding, exhibiting smooth surface and uniformdiameter (ca. 40 90 nm).

在更高分辨率的条件下（可以看出），白色生成物由大量的丝状材料构成，且这些线是弯曲的，有光滑的表面和均匀的直径（约40 90 nm）。

Further HRTEMexamination shows that the nanowires are amorphous (fig. 2(c)) and EDX analysesindicate that they consist solely of silicon and oxygen (fig. 2(d)).

用高分辨透射电子显微镜进行进一步检查表明，纳米线为非结晶的（图2（c）），而能谱分析表明，他们只是由硅和氧（图2（d））构成的。

Computeranalyses exhibit that the Si O ratio is 1 2. Therefore, they are very longamorphous SiO2 nanowires.

计算机分析表明，Si与O的比率为1:2。因此，他们是很长的非结晶SiO2纳米线。

all data a represented as the mean ± sem

词典结果

all data a represented as the mean ± sem

所有数据均为平均扫描电镜

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